[实用新型]低正向导通压降的肖特基二极管有效

专利信息
申请号: 201120064944.7 申请日: 2011-03-14
公开(公告)号: CN202058741U 公开(公告)日: 2011-11-30
发明(设计)人: 童钧彦;王凯莹;吕佳玲;吴国贤;陈坤贤 申请(专利权)人: 璟茂科技股份有限公司
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872;H01L29/06
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 代理人: 孙皓晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型提供了一种低正向导通压降的肖特基二极管,主要是在一N+型掺杂层上形成有一N-型掺杂漂移层,该N-型掺杂漂移层具有一第一表面,并形成一凹入第一表面的护环,护环内为一P型掺杂区;又N-型掺杂漂移层表面进一步形成一氧化层及一金属层,该金属层与N-型掺杂漂移层、P型掺杂区接触的部位构成一肖特基势垒;本实用新型使该肖特基势垒的高度低于N-型掺杂漂移层的表面,藉此缩小肖特基势垒下方的N-型掺杂漂移层厚度,以进一步降低肖特基二极管的正向导通压降。
搜索关键词: 向导 通压降 肖特基 二极管
【主权项】:
一种低正向导通压降的肖特基二极管,其特征在于,包括:一N+型掺杂层;一N‑型掺杂漂移层,形成在所述N+型掺杂层上,该N‑型掺杂漂移层具有一第一表面,并形成一凹入第一表面的护环,该护环内为一P型掺杂区;一氧化层,是形成在所述N‑型掺杂漂移层上;一金属层,是形成于所述氧化层及N‑型掺杂漂移层上,该金属层与N‑型掺杂漂移层、P型掺杂区接触的部位构成一肖特基势垒,该肖特基势垒是位于N‑型掺杂漂移层的第一表面以下。
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