[发明专利]包含参考光束的垂直入射宽带偏振光谱仪及光学测量系统有效
申请号: | 201110427910.4 | 申请日: | 2011-12-19 |
公开(公告)号: | CN103162832A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 李国光;刘涛;赵江艳;郭青杨;艾迪格·基尼欧;马铁中;夏洋 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所;北京智朗芯光科技有限公司 |
主分类号: | G01J3/447 | 分类号: | G01J3/447;G01J3/02;G01B11/06;G01B11/24;G01N21/21;G01N21/25 |
代理公司: | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘丽君 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供的一种包含参考光束的垂直入射宽带偏振光谱仪包括光源、第一反射单元、第一聚光单元、第二聚光单元、偏振器、第一曲面反射镜、第一平面反射镜、第二反射单元和探测单元。本发明还提供一种光学测量系统。本发明提供的包含参考光束的垂直入射宽带偏振光谱仪实现了分光后的光束的完整结合,在提高光通效率的同时,还能保持光束的偏振状态,而且系统的复杂程度比现有技术低。 | ||
搜索关键词: | 包含 参考 光束 垂直 入射 宽带 偏振 光谱仪 光学 测量 系统 | ||
【主权项】:
一种包含参考光束的垂直入射宽带偏振光谱仪,其特征在于,包括光源、第一反射单元、第一聚光单元、第二聚光单元、偏振器、第一曲面反射镜、第一平面反射镜、第二反射单元和探测单元,其中:所述第一反射单元用于将所述光源发射的光分为探测光束和参考光束两部分,并将所述探测光束入射至所述第一聚光单元,将所述参考光束入射至所述第二聚光单元;所述第一聚光单元用于接收所述探测光束,使该光束变成平行光束后入射至所述偏振器;所述偏振器设置于所述第一聚光单元和所述第一曲面反射镜之间,用于使所述平行光束通过并入射至所述第一曲面反射镜;所述第一曲面反射镜用于接收通过所述偏振器的平行光束并使该光束变成会聚光束;所述第一平面反射镜用于接收所述会聚光束并将所述会聚光束反射后垂直地聚焦到样品上;所述第二聚光单元用于接收所述参考光束,并将其入射至所述第二反射单元;所述第二反射单元用于分别或同时接收从样品反射的依次经过所述平面反射镜、所述第一曲面反射镜、所述偏振器、所述第一聚光单元的探测光束和通过所述第二聚光单元的参考光束,并将所接收到的光束入射至所述探测单元;所述探测单元用于探测被所述第二反射单元所反射的光束。
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