[发明专利]一种高精度高频正弦波有效值实时检测方法无效

专利信息
申请号: 201110401975.1 申请日: 2011-12-07
公开(公告)号: CN103149415A 公开(公告)日: 2013-06-12
发明(设计)人: 王越超;王栋;董再励;鲁鹏;周磊;焦念东 申请(专利权)人: 中国科学院沈阳自动化研究所
主分类号: G01R19/02 分类号: G01R19/02;G01R19/25
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 周秀梅;许宗富
地址: 110016 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明涉及高频正弦波有效值的数字化实时检测技术,具体地说是一种基于FPGA高速数据处理技术的高精度高频正弦波有效值实时检测方法。取正弦波一个周期的采样点数m中任意一个采样点为第n点,从第n点到第n+m-1点,计算一个周期内采样幅值为xi的正弦波有效值;依次求Sn+1,Sn+2,...,Sn+m-1;取m个有效值数据Si(i=1,2...m)的均值S作为该正弦波的有效值。本发明的计算误差小,计算速度快,适用范围宽,通过修改参数,可以实现频率从几十KHz到几百KHz正弦波的有效值检测。
搜索关键词: 一种 高精度 高频 正弦波 有效值 实时 检测 方法
【主权项】:
一种高精度高频正弦波有效值实时检测方法,其特征在于,包括以下步骤:取正弦波一个周期的采样点数m中任意一个采样点为第n点,从第n点到第n+m‑1点,计算一个周期内采样幅值为xi的正弦波有效值 S n = ( 1 m Σ i = n n + m - 1 x i 2 ) 1 2 - - - ( 1 ) 利用公式(1)依次求Sn+1,Sn+2,...,Sn+m‑1;取m个有效值数据Si(i=1,2...m)的均值S作为该正弦波的有效值: S = 1 m Σ j = n n + m - 1 S i = 1 m Σ j = n n + m - 1 ( 1 m Σ i = j j + m - 1 x i 2 ) 1 2 - - - ( 2 )
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