[发明专利]一种电子标签匹配阻抗的测量方法及系统有效
| 申请号： | 201110336651.4 | 申请日： | 2011-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN103091556A | 公开（公告）日： | 2013-05-08 |
| 发明（设计）人： | 甘泉 | 申请（专利权）人： | 国民技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 杨立 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种电子标签匹配阻抗的测量方法及系统。其中，电子标签匹配阻抗的测量方法包括：将读写器、同轴导线、测试探针、电子标签芯片依次相连，找到所述读写器能够支持所述电子标签芯片工作的最小输出功率P0；将矢量网络分析仪、经过校准的所述同轴导线、经过校准的所述测试探针、所述电子标签芯片依次相连，设置所述矢量网络分析仪的输出功率为P0，通过测量获得第四回波反射值；对所述第四回波反射值进行处理，得到所述电子标签芯片的匹配阻抗。本发明的电子标签匹配阻抗的测量方法及系统,能够获得电子标签芯片在灵敏度极限时的阻抗值，从而简化电子标签的天线设计，节约设计时间和成本，提高设计精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子标签 匹配 阻抗 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
一种电子标签匹配阻抗的测量方法，其特征在于，包括：将读写器、同轴导线、测试探针、电子标签芯片依次相连，找到所述读写器能够支持所述电子标签芯片工作的最小输出功率P0；将矢量网络分析仪、经过校准的所述同轴导线、经过校准的所述测试探针、所述电子标签芯片依次相连，设置所述矢量网络分析仪的输出功率为P0，通过测量获得第四回波反射值；对所述第四回波反射值进行处理，得到所述电子标签芯片的匹配阻抗。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国民技术股份有限公司，未经国民技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110336651.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：基于被测表面荧光激发的长工作距轮廓测量装置
- 下一篇：衣服上的布钻方法
