[发明专利]一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统有效
| 申请号： | 201110282889.3 | 申请日： | 2011-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN102435421A | 公开（公告）日： | 2012-05-02 |
| 发明（设计）人： | 刘兴胜;吴迪;张彦鑫 | 申请（专利权）人： | 西安炬光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 徐平 |
| 地址： | 710119 陕西省西安市高*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统，以精确测试半导体激光器的偏振度和判别偏振模式。本发明的偏振测试系统是在半导体激光器出射端设置有按照功率进行分光的分光器，该分光器的透射方向上依次设置有偏振滤光状态可调的偏振器件、会聚透镜/透镜组、第一功率探测装置；该分光器的反射方向上设置有按照偏振模式分光的分光棱镜，该分光棱镜分出的透射、反射光路上分别设置有第二功率探测装置和第三功率探测装置。本发明操作简单，可适用于大批量半导体激光器产品的测试，针对不同型号的激光器在测量偏振度时调节简便，可快速判定半导体激光器的偏振模式。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 偏振 测试 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
1.一种半导体激光器偏振测试方法，其特征在于：将激光器出射光按照功率进行分光；分光得到的透射光通过偏振器件，再经过会聚透镜/透镜组会聚入射至功率探测装置；持续旋转偏振器件，相应取得功率探测装置输出的的光功率值；记录所有光功率值中的最大光功率值Pmax和最小光功率值Pmin；半导体激光器偏振度即![]()
分光得到的反射光经分光棱镜按照偏振模式对激光光束进行再次分光，分出偏振态为TE和TM的光分别取得偏振态为TE和TM的光束的光功率值，经对比即可判定出半导体激光器的偏振模式。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安炬光科技有限公司，未经西安炬光科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110282889.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
