[发明专利]用于相变存储器的冗余替换方法和相变存储器无效
| 申请号： | 201110202198.8 | 申请日： | 2011-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN102332302A | 公开（公告）日： | 2012-01-25 |
| 发明（设计）人： | 刘志青;董骁 | 申请（专利权）人： | 北京时代全芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/02 | 分类号： | G11C16/02;G11C16/06;G11C11/56 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 黄德海 |
| 地址： | 100176 北京市经济技术开发*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种用于相变存储器的冗余替换方法和相变存储器。该方法包括以下步骤：对相变存储器进行测试以确定信息行/列；为有错误的行/列选择替换的冗余行/列，并记录替换信息；将替换信息保存至所述信息行/列；读取信息行/列中重复存储N次的替换信息；根据重复存储N次的替换信息进行多数表决以对替换信息进行纠错；和根据纠错后的替换信息选择与所述读地址/写地址相对应的冗余行/列进行读操作/写操作。本发明实施例通过将替换信息在信息行/列中多次存储，并在读取信息行/列的同时进行多数表决，从而即使信息行/列中的某个信息出现了错误，通过多数表决也可将该错误排除。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 相变 存储器 冗余 替换 方法 | ||
【主权项】：
一种用于相变存储器的冗余替换方法，其特征在于，包括以下步骤：对相变存储器进行测试以确定信息行/列，并获得所述相变存储器中出错误的行/列的信息；为所述有错误的行/列选择替换的冗余行/列，并记录替换信息；将所述替换信息保存至所述信息行/列，其中，所述替换信息在所述信息行/列中至少重复存储N次，所述N为大于1的整数；在进行读/写操作时，如果相应的读地址/写地址为所述出错误的行/列地址，则读取所述信息行/列中重复存储N次的替换信息；根据所述重复存储N次的替换信息进行多数表决以对所述替换信息进行纠错；和根据所述纠错后的替换信息选择与所述读地址/写地址相对应的冗余行/列进行读操作/写操作。
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