[发明专利]一种InGaN量子点的外延生长方法以及所得的单光子源无效

专利信息
申请号: 201110162664.4 申请日: 2011-06-16
公开(公告)号: CN102244156A 公开(公告)日: 2011-11-16
发明(设计)人: 罗毅;吕文彬;汪莱;郝智彪 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/04
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王加岭;张庆敏
地址: 100084 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种InGaN量子点的外延生长方法,包括以下步骤:在衬底上依次外延生长低温缓冲层、高温GaN体材料和低温GaN插入层,然后在所述GaN插入层上外延生长InGaN量子点。本发明还提供了一种由所述生长方法所得的InGaN量子点单光子源。本发明所述外延生长方法所得的量子点具有很强的量子限制效应,十分适合制作单光子源。所述外延生长方法可以有效降低量子点的横向尺寸和密度,而且步骤简便,条件温和,具有广泛的应用价值。
搜索关键词: 一种 ingan 量子 外延 生长 方法 以及 所得 光子
【主权项】:
一种InGaN量子点的外延生长方法,其特征在于,包括以下步骤:在衬底上依次外延生长低温缓冲层、高温GaN体材料和低温GaN插入层,然后在所述GaN插入层上外延生长InGaN量子点。
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