[发明专利]反应腔装置及具有其的基片处理设备有效

专利信息
申请号: 201110141309.9 申请日: 2011-05-27
公开(公告)号: CN102796992A 公开(公告)日: 2012-11-28
发明(设计)人: 周卫国 申请(专利权)人: 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
主分类号: C23C16/44 分类号: C23C16/44;C23C16/455;C23C16/458
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 张大威
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出一种反应腔装置,包括:腔室本体,腔室本体内限定有反应腔室;多个托盘,多个托盘设置在反应腔室之中且可绕中心轴转动;和整流片,所述多个托盘之间间隔设置所述整流片,且整流片位置固定不动。本发明还提出一种基片处理设备。通过本发明实施例提出的反应腔装置,可有效地增强托盘的温度补偿效果,提高托盘的温度均匀性。通过本发明实施例提出的基片处理设备,可使基片表面温度更加均匀,进而提高基片的成膜工艺指标。
搜索关键词: 反应 装置 具有 处理 设备
【主权项】:
一种反应腔装置,其特征在于,包括:腔室本体,所述腔室本体内限定有反应腔室;多个托盘,所述多个托盘设置在所述反应腔室之中且可绕中心轴转动;和整流片,所述多个托盘之间间隔设置所述整流片,且所述整流片位置固定不动。
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