[发明专利]在料位测量时的介质特性的确定有效

专利信息
申请号: 201080070752.5 申请日: 2010-12-16
公开(公告)号: CN103261854A 公开(公告)日: 2013-08-21
发明(设计)人: 罗兰·韦勒;卡尔·格里斯鲍姆 申请(专利权)人: VEGA格里沙贝两合公司
主分类号: G01F23/296 分类号: G01F23/296;G01N29/024
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张春水;田军锋
地址: 德国沃*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 为了计算在容器中的料位,检测描述沿两个不同的测量路段的两个反射情况的回波曲线。相应的测量信号在其到填料表面的或分界层表面的路程上经过不同的电气距离。从两个回波曲线中能够计算表示特性的特性值,所述特性值反映叠加介质的物理特性。然后,由此能够以提高的精度确定料位。
搜索关键词: 测量 介质 特性 确定
【主权项】:
料位测量装置(101),所述料位测量装置根据渡越时间方法工作,所述装置具有:用于检测第一回波曲线和第二回波曲线的回波曲线检测装置;其中所述第一回波曲线描述沿第一测量路段(601,701,801,905)的反射情况,第一测量信号沿所述第一测量路段朝填料表面或分界层表面运动;其中所述第二回波曲线描述沿第二测量路段(602,702,802,906)的反射情况,第二测量信号沿所述第二测量路段朝填料表面或分界层表面运动;其中两个所述测量信号需要到所述填料表面或分界层表面(105)的不同的渡越时间;所述料位测量装置还具有:用于评估所述第一回波曲线和所述第二回波曲线的评估装置(110),以便由此计算用于位于所述填料表面或分界层表面之上的叠加介质的至少一个特性值。
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