[发明专利]通过检测KRAS突变和RTK表达水平来测定细胞对B-RAF抑制剂治疗的敏感性有效
| 申请号： | 201080048007.0 | 申请日： | 2010-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN102859355A | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | G.哈齐瓦西利奥;S.马利克 | 申请（专利权）人： | 基因泰克公司 |
| 主分类号： | G01N33/48 | 分类号： | G01N33/48 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 张红春 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及用于鉴定对B-Raf抑制剂治疗不易感的肿瘤的预后方法，其通过检测K-ras基因或蛋白中的突变或者通过检测RTK和/或其配体的过表达来进行。还公开了用于实施所述方法的试剂盒。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 检测 kras 突变 rtk 表达 水平 测定 细胞 raf 抑制剂 治疗 敏感性 | ||
【主权项】：
一种鉴定不响应用B‑Raf抑制剂治疗的患者的方法，包括测定K‑ras突变的存在或缺乏，由此K‑ras突变的存在指示患者不会响应所述B‑Raf抑制剂治疗。
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