[发明专利]用于探测在三维重建中的不良质量的系统和方法有效
| 申请号： | 201080033165.9 | 申请日： | 2010-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN102481117A | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·梅耶尔;拉霍尔·卡特戴尔;戴维·施泰恩霍尔;J·理查德·拉恩 | 申请（专利权）人： | 维森盖特有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/06 | 分类号： | A61B5/06;G06T17/20 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 纪晓峰 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于在光学层析系统中探测劣质图像的系统和方法包括用于获取具有质心的物体(15)的一组投影图像(22)的获取装置(25)，其中这组投影图像(22)的每个以不同的视角被获取。重建装置(35)耦合成接收所述投影图像(22)，用于将所述投影图像(22)重建成三维重建图像。质量装置(36)耦合成接收所述三维重建图像，并操作来探测表征不良质量重建的选定特征。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 探测 三维重建 中的 不良 质量 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于在光学层析系统中探测劣质图像的系统，包括：获取装置(25)，用于获取具有质心的物体(15)的一组投影图像(22)，其中这组投影图像(22)的每个以不同的视角被获取；重建装置(35)，耦合成接收所述投影图像(22)，用于将所述投影图像(22)重建成三维重建图像；以及质量装置(36)，其用于使用表征不良质量重建的选定特征来对所述三维重建图像分类。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于维森盖特有限公司，未经维森盖特有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201080033165.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
