[发明专利]用于探测在三维重建中的不良质量的系统和方法

权利要求书

1.一种用于在光学层析系统中探测劣质图像的系统，包括：

获取装置(25)，用于获取具有质心的物体(15)的一组投影图像(22)，其中这组投影图像(22)的每个以不同的视角被获取；

重建装置(35)，耦合成接收所述投影图像(22)，用于将所述投影图像(22)重建成三维重建图像；以及

质量装置(36)，其用于使用表征不良质量重建的选定特征来对所述三维重建图像分类。

2.如权利要求1所述的系统，其中，所述选定特征描述所述三维重建图像中的拖尾(102)。

3.如权利要求2所述的系统，其中，该组伪投影图像(22)呈现所述物体(15)的质心趋向，且所述选定特征还包括从所述质心趋向(806)与余弦拟合曲线(808)的比较计算的比较特征。

4.如权利要求1所述的系统，其中，所述选定特征包括通过创建在固定焦距图像和重建切片图像之间的差分图像来形成的差分图像特征。

5.如权利要求4所述的系统，其中，对与细胞(100)相关的那些三维像素计算所述差分图像特征，所述细胞(100)包括所述图像的包含细胞(100)的部分的平均差异。

6.如权利要求1所述的系统，其中，该组伪投影图像(22)呈现所述物体(15)的质心趋向(806)，且所述选定特征从所述质心趋向(806)与拟合所述趋向(806)的余弦函数的比较来计算。

7.如权利要求6所述的系统，其中，所述选定特征的计算包括测量所述余弦函数和所述质心趋向(806)之间的误差。

8.如权利要求7所述的系统，其中，所述选定特征包括绝对值和半径标准化最大偏差，以及所述余弦函数和所述质心趋向(806)之间的均方根误差RMSE。

9.如权利要求1所述的系统，其中，所述选定特征选自由直方图统计数据、纹理特征和空间频率特征组成的组。

10.一种用于在光学层析系统中探测劣质图像的方法，包括：

操作所述光学层析系统来获取具有质心的物体(15)的一组投影图像(22)，其中这组投影图像(22)的每个以不同的视角被获取；

将这组投影图像(22)传输到处理器用于将所述投影图像(22)重建成三维重建图像；以及

操作所述处理器来使用表征不良质量重建的选定特征来对所述三维重建图像分类。

11.如权利要求10所述的方法，其中，所述选定特征描述所述三维重建图像中的拖尾(102)。

12.如权利要求10所述的方法，其中，该组伪投影图像(22)呈现所述物体(15)的质心趋向(806)，且所述选定特征还包括从所述质心趋向(806)与余弦拟合曲线(808)的比较计算的比较特征。

13.如权利要求10所述的方法，其中，所述选定特征包括通过创建在固定焦距图像和重建切片图像之间的差分图像来形成的差分图像特征。

14.如权利要求10所述的方法，其中，对与细胞(100)相关的那些三维像素计算所述差分图像特征，所述细胞(100)包括所述图像的包含细胞(100)的部分的平均差异。

15.如权利要求10所述的方法，其中，该组伪投影图像(22)呈现所述物体(15)的质心趋向(806)，且所述选定特征从所述质心趋向(806)与拟合所述趋向(806)的余弦函数的比较来计算。

16.如权利要求15所述的方法，其中，所述选定特征的计算包括测量所述余弦函数和所述质心趋向(806)之间的误差。

17.如权利要求16所述的方法，其中，所述选定特征包括绝对值和半径标准化最大偏差，以及所述余弦函数和所述质心趋向(806)之间的均方根误差RMSE。

18.如权利要求10所述的方法，其中，所述选定特征选自由直方图统计数据、纹理特征和空间频率特征组成的组。