[发明专利]用于监测电子束强度的方法和装置有效
| 申请号： | 201080004718.8 | 申请日： | 2010-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN102282642A | 公开（公告）日： | 2011-12-14 |
| 发明（设计）人： | G·凯尔;A·蒙策尔 | 申请（专利权）人： | KHS有限责任公司 |
| 主分类号： | H01J37/244 | 分类号： | H01J37/244;H01J37/304;H01J33/02;B65B55/08;A61L2/08 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王琼 |
| 地址： | 德国多*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明所述方法和装置用于监测电子束的强度。为了探测所述电子束强度的变化，探测和评估所述电子束直接或间接产生的电磁辐射。这尤其是指紫外线辐射和/或可见光范围内的辐射。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 监测 电子束 强度 方法 装置 | ||
【主权项】：
用于监测电子束强度的方法，其特征在于，探测和评估由电子束直接或间接产生的电子辐射或者电磁辐射，以便探测所述电子束强度的变化。
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