[实用新型]一种存储器芯片的性能检测装置有效
| 申请号： | 201020640264.0 | 申请日： | 2010-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN201853496U | 公开（公告）日： | 2011-06-01 |
| 发明（设计）人： | 王绍成 | 申请（专利权）人： | 中国神华能源股份有限公司;神华包神铁路有限责任公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 南毅宁;王凤桐 |
| 地址： | 100011 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供的存储器芯片的性能检测装置包括：主体(7)；用于连接存储器芯片的芯片连接装置(8)；用于输入清空指令的操作按键(9)；以及控制模块(10)；芯片连接装置(8)和操作按键(9)分别设置在主体(7)的外表面，控制模块(10)设置在主体(7)的内部，控制模块(10)包括用于根据所输入的清空指令对存储器芯片执行清空操作、在清空操作完成之后输出表示清空成功的电信号的清空单元(11)，操作按键(9)和芯片连接装置(8)分别与控制模块(10)的清空单元(11)电连接。采用本实用新型提供的性能检测装置可以避免频繁更换机车存储器芯片，降低检修成本，并提高机车运行安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 芯片 性能 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种存储器芯片的性能检测装置，其特征在于，该性能检测装置包括：主体(7)；用于连接存储器芯片的芯片连接装置(8)；用于输入清空指令的操作按键(9)；以及控制模块(10)；所述芯片连接装置(8)和操作按键(9)分别设置在所述主体(7)的外表面，所述控制模块(10)设置在所述主体(7)的内部，所述控制模块(10)包括用于根据所输入的清空指令对存储器芯片执行清空操作、在清空操作完成之后输出表示清空成功的电信号的清空单元(11)，所述操作按键(9)和所述芯片连接装置(8)分别与所述控制模块(10)的清空单元(11)电连接。
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