[实用新型]一种存储器芯片的性能检测装置有效
申请号: | 201020640264.0 | 申请日: | 2010-11-29 |
公开(公告)号: | CN201853496U | 公开(公告)日: | 2011-06-01 |
发明(设计)人: | 王绍成 | 申请(专利权)人: | 中国神华能源股份有限公司;神华包神铁路有限责任公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 南毅宁;王凤桐 |
地址: | 100011 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 存储器 芯片 性能 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及内燃和电力机车的存储器芯片,尤其涉及一种存储器芯片的性能检测装置。
背景技术
内燃和电力机车的监控主机记录板存储器芯片用于存储机车运行数据及各项运行参数,是机车运行控制中不可缺少的部件。机车存储器芯片属于可擦除存储芯片,由于机车运行过程中有大量的数据需要进行存储,芯片在存储过多运行文件之后容易造成主机运行慢、死机、运行数据丢失等现象,严重影响了机车的运行安全。目前由于无法获知芯片的存储状态,只能在由于芯片故障导致机车运行出现问题时通过更换存储器芯片来解决问题,降低了机车运行的安全性和可靠性,并且由于芯片费用较高,也增加了不少检修成本。
实用新型内容
本实用新型的目的是针对目前只能在由于芯片故障导致机车运行出现问题时通过更换存储器芯片来解决问题,导致降低了机车运行的安全性和可靠性,同时增加了检修成本的问题,提供一种能够提高存储器芯片的性能、由此降低检修成本、提高机车运行安全性的存储器芯片的性能检测装置。
本实用新型提供的存储器芯片的性能检测装置包括:主体;用于连接存储器芯片的芯片连接装置;用于输入清空指令的操作按键;以及控制模块;所述芯片连接装置和操作按键分别设置在所述主体的外表面,所述控制模块设置在所述主体的内部,所述控制模块包括用于根据所输入的清空指令对存储器芯片执行清空操作、在清空操作完成之后输出表示清空成功的电信号的清空单元,所述操作按键和所述芯片连接装置分别与所述控制模块的清空单元电连接。
采用本实用新型提供的性能检测装置对存储器芯片进行检测,能够根据所输入的清空指令对存储器芯片执行清空操作,由此可以擦除存储器芯片中无用的数据,保证存储器芯片的存储空间。定期采用本实用新型提供的性能检测装置对存储器芯片进行清空,由于清空后的存储器芯片没有过多的文件堆积,可以提高主机的运行速度,减少死机、数据丢失等现象的发生,进而避免频繁更换芯片,降低了检修成本,并且提高了机车运行安全性。
附图说明
图1为本实用新型提供的存储器芯片的性能检测装置的结构示意图;
图2为本实用新型提供的存储器芯片的性能检测装置中的控制模块10的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型提供的存储器芯片的性能检测装置做进一步的详细描述。
如图1所示,本实用新型提供的存储器芯片的性能检测装置包括:主体7;用于连接存储器芯片的芯片连接装置8;用于输入清空指令的操作按键9;以及控制模块10;所述芯片连接装置8和操作按键9分别设置在所述主体7的外表面,所述控制模块10设置在所述主体7的内部,所述控制模块10包括用于根据所输入的清空指令对存储器芯片执行清空操作、在清空操作完成之后输出表示清空成功的电信号的清空单元11,所述操作按键9和所述芯片连接装置8分别与所述控制模块10的清空单元11电连接。
根据本实用新型的技术方案,主体7可以为便于手持的结构,例如图1所示的立方体结构,可以在主体1的顶部设置芯片连接装置8,该芯片连接装置8用于实现存储器芯片与所述性能检测装置内部的控制模块10的清空单元11的连接,以实现对芯片的检测操作,该芯片连接装置8例如可以为防插反式插槽。该插槽被设置成可以容纳存储器芯片的大小,其内设置有与存储器芯片针脚一一对应的接触点,为了防止存储器芯片插反,可以在插槽的边角设置一个或两个不对称的凸起定位点,以与存储器芯片上的凹槽对应。在插入时,可以根据存储器芯片凹槽位置来判断正反方向,再将存储器芯片上的凹槽对准插槽内的凸起定位点,沿着两旁沟槽将存储器芯片放入插槽中。如果芯片插入方向错误,由于凸起定位点的作用,存储器芯片无法完全放入插槽中。该防插反式设计可以防止存储器芯片插反而导致所述性能检测装置无法工作。
操作按键9可以设置在所述主体7的外表面,用于通过按压动作而输入操作指令到控制模块10。为了方便操作,操作按键9例如可以设置在主体7的外表面靠近芯片连接装置8的位置。
所述主体7还包括设置在主体7内部的控制模块10,该控制模块10为当接收到所输入的指令时根据预先设定的程序的指示执行相应操作的控制器,例如可以为PLC或单片机。该控制模块10包括清空单元11,该清空单元11用于根据所输入的清空指令对存储器芯片执行清空操作,并在清空操作完成之后输出表示清空成功的电信号。
根据本实用新型的一种实施方式,所提供的性能检测装置主要用于对现有的内燃、电力机车的主机存储器芯片执行性能检测,所述存储器芯片为DALLAS芯片。
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