[实用新型]压力可控的薄膜按键阻抗测试系统无效

专利信息
申请号: 201020172425.8 申请日: 2010-04-21
公开(公告)号: CN201689135U 公开(公告)日: 2010-12-29
发明(设计)人: 杨世光 申请(专利权)人: 东莞中逸电子有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;G01R31/327;G01R1/04
代理公司: 厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 代理人: 彭长久
地址: 523000 广东省东莞市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及薄膜按键测试设备领域技术,尤其是指一种压力可控的薄膜按键阻抗测试系统,其可有效控制测试过程中对薄膜按键的击打力度,避免在测试过程中对薄膜按键造成损坏,同时改善薄膜按键之阻抗测试的精度。其包括上治具、下治具、气缸、电磁铁、压力侦测模块、阻抗测试模块、恒流源模块和电脑主控单元,该上治具固装于可被气缸带动上下升降的活动压床上,恒流源模块连接于电脑主控单元与电磁铁之间用于供电给电磁铁,电磁铁安装于上治具中用于通电后压紧待测薄膜按键;压力侦测模块设置于下治具中,用于侦测电磁铁的压力并转换成数字压力值;电脑主控单元用于通过改变恒流源模块送出的电流来校正电磁铁产生的压力值为客户需要的压力值。
搜索关键词: 压力 可控 薄膜 按键 阻抗 测试 系统
【主权项】:
一种压力可控的薄膜按键阻抗测试系统,其特征在于:包括上治具、下治具、气缸、电磁铁、压力侦测模块、阻抗测试模块、恒流源模块和电脑主控单元,其中,该上治具固装于可被气缸带动上下升降的活动压床上,气缸的工作由电脑主控单元控制;恒流源模块连接于电脑主控单元与电磁铁之间用于供电给电磁铁,电磁铁安装于上治具中用于通电后压紧待测薄膜按键;压力侦测模块设置于下治具中,其输出端连接于电脑主控单元,用于侦测电磁铁的压力并转换成数字压力值;电脑主控单元用于通过改变恒流源模块送出的电流来校正电磁铁产生的压力值为客户需要的压力值,并将该电流值记录归档以备阻抗测试所需;阻抗测试模块设置于下治具中用于分析待测薄膜按键的阻抗性能。
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