[发明专利]一种非易失存储器的过擦除校验方法和校验系统有效
| 申请号： | 201010617363.1 | 申请日： | 2010-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN102568588A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 苏志强;舒清明 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/16 | 分类号： | G11C16/16 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 苏培华 |
| 地址： | 100084 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种非易失存储器的过擦除校验方法，包括：构造一个虚拟的参考存储单元，用于提供校验的参考电流；给待校验的存储单元的字线上施加参考电压，在待校验的存储单元中得到测试电流；比较测试电流与参考电流，判断待校验的存储单元是否存在过擦除。本发明的过擦除校验方法通过构造虚拟的参考存储单元来获取参考电流，而不用实际选取参考的存储单元，因此也就无需进行参考存储单元的阈值电压VT调节这一过程，减少了测试的时间及成本。本发明还提供一种非易失存储器的过擦除校验系统。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 非易失 存储器 擦除 校验 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种非易失存储器的过擦除校验方法，其特征在于，包括以下步骤：构造一个虚拟的参考存储单元，用于提供校验的参考电流；给待校验的存储单元的字线上施加参考电压，在待校验的存储单元中得到测试电流；比较测试电流与参考电流，判断待校验的存储单元是否存在过擦除。
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