[发明专利]一种半导体激光器特性测试系统有效
| 申请号： | 201010591449.1 | 申请日： | 2010-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN102109571A | 公开（公告）日： | 2011-06-29 |
| 发明（设计）人： | 刘兴胜;吴迪;张彦鑫;杨凯;李锋 | 申请（专利权）人： | 西安炬光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01S5/00 |
| 代理公司： | 西安西交通盛知识产权代理有限责任公司 61217 | 代理人： | 罗永娟 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半导体激光器特性测试系统，包括半导体激光器驱动器、三维平行导轨、激光器温度控制模块、LIV和光谱测试模块、偏振测试模块、近场光斑测试模块、近场非线性测试模块、远场测试模块、空间光谱测试模块、中央软件处理模块。同时可根据需要选择工作模块。本发明用于对半导体激光器，尤其是高功率半导体激光器的高精度和自动化测试，降低半导体激光器的检测和生产制造成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 特性 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种半导体激光器特性测试系统，包括一光学平台(1)和计算机系统，其特征在于：所述光学平台(1)上固定设有二维平移导轨(2)，所述二维平移导轨(2)通过滑块固定设有激光器固定座，所述激光器固定座上设有被测激光器(4)，所述激光器固定座上还设有控制被测激光器(4)温度的激光器温度控制模块，所述二维平移导轨(2)的旁侧排列有分别与所述计算机系统相连的LIV和光谱测试模块、偏振测试模块、近场光斑测试模块、近场非线性测试模块、远场测试模块以及空间光谱测试模块的一个或者多个；所述被测激光器(4)通过半导体激光器驱动器(5)与计算机系统连接。
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