[发明专利]一种功率场效应晶体管及其布图方法无效

专利信息
申请号: 201010588544.6 申请日: 2010-12-03
公开(公告)号: CN102110691A 公开(公告)日: 2011-06-29
发明(设计)人: 游步东 申请(专利权)人: 杭州矽力杰半导体技术有限公司
主分类号: H01L27/105 分类号: H01L27/105;H01L29/78;H01L29/41;H01L21/8232;H01L21/336;H01L21/768
代理公司: 杭州九洲专利事务所有限公司 33101 代理人: 翁霁明
地址: 310012 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种集成于一单片硅片上的功率场效应晶体管及其布图设计方法,所述功率场效应晶体管由多个单元晶格并行排列组成,每一单元晶格包括栅极区域、源极区域和漏极区域,其中,所述漏极区域和所述源极区域分别分布在所述栅极区域的两侧,其特征在于,所述栅极区域呈弯折形状,在第一端向漏极区域弯折,以在漏极区域形成第一凹入区域、第一弯折区域和第一接触区域;在第二端向源极区域弯折,以在源极区域形成第二凹入区域、第二弯折区域和第二接触区域;所述的呈弯折形状的栅极区域增加了有效沟道宽度,从而使得导通电阻RDSON减小;相应的漏极区域和源极区域不再是矩形形状,而是在不同的区域具有不同的形状,从而减小单元晶格的高度,进一步减小了导通电阻RDSON;并且它还可以增加场效应晶体管的沟道密度,从而减小了导通电阻RDSON,其实现方法更加有利和实用。
搜索关键词: 一种 功率 场效应 晶体管 及其 方法
【主权项】:
一种功率场效应晶体管,由多个单元晶格并行排列组成,每一单元晶格包括栅极区域、源极区域和漏极区域,其中,所述漏极区域和所述源极区域分别分布在所述栅极区域的两侧,其特征在于,所述栅极区域呈弯折形状,在第一端向漏极区域弯折,以在漏极区域形成第一凹入区域、第一弯折区域和第一接触区域;在第二端向源极区域弯折,以在源极区域形成第二凹入区域、第二弯折区域和第二接触区域。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州矽力杰半导体技术有限公司,未经杭州矽力杰半导体技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010588544.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top