[发明专利]一种微细切削表面微观形貌的提取和评价方法无效
| 申请号： | 201010522974.8 | 申请日： | 2010-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN101995847A | 公开（公告）日： | 2011-03-30 |
| 发明（设计）人： | 王西彬;刘志兵;解丽静;焦黎;李忠新;杨洪建 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G05B19/401 | 分类号： | G05B19/401 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 微细切削是一种低成本、高效率、高精度的微细加工关键技术，表面微观形貌的提取和评价是提高微细切削工艺能力的重要技术措施。本发明涉及一种微细切削表面微观形貌的提取和评价方法。利用接触式表面粗糙度仪、PC机搭建微细切削表面微观形貌测试系统；分别选取表面轮廓数字特征、表面粗糙度、功率谱密度函数、分形维数，以及幅值密度函数、自相关函数和功率谱密度函数、互相关函数等表面微观形貌数理统计函数作为特征参数，对微细切削表面的微观形貌特征进行提取和评价；本发明提出的微细切削表面微观形貌的提取和评价方法可用于微细切削参数的优化选择和控制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微细 切削 表面 微观 形貌 提取 评价 方法 | ||
【主权项】：
本发明涉及一种微细切削表面微观形貌的提取和评价方法，其技术特征主要包括：1.利用接触式表面粗糙度仪、PC机等搭建微细切削表面微观形貌测试系统；
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