[发明专利]一种极端条件下测量材料应变特性的方法及系统有效
| 申请号： | 201010291200.9 | 申请日： | 2010-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN102012416A | 公开（公告）日： | 2011-04-13 |
| 发明（设计）人： | 陈腊;李哲;康保娟;沈少喜;敬超;曹世勋;张金仓 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G01N33/00 | 分类号： | G01N33/00;G01B7/16 |
| 代理公司： | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人： | 何文欣 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种极端条件下测量材料应变特性的方法及系统。本方法操作步骤为：1.在具有极端条件的综合物性测量系统中安置样品；2.利用惠斯通半桥法测量应变；3.利用静态应变仪在预设温度磁场值下测量样品应变；4.消除误差。本系统是：一个综合物性测量系统和一个静态应变仪分别通过GPIB接口总线和RS232接口与一个微机终端相连，该微机终端包含一个数据采集分析系统。本发明能够在极低温和强磁场条件下测量样品静态应变特性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 极端 条件下 测量 材料 应变 特性 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种极端条件下测量材料应变特性的方法，其特征在于操作步骤如下：a.综合物性测量系统(2)为测试提供所需的极低温和强磁场条件，以及调节样品与磁场夹角方向；待测样品(4)用胶水粘固于应变片(5)上，再用双面胶及夹具固定于样品托(6)或旋转杆上，样品托(6)或旋转杆置于液氦杜瓦(7)样品腔内；b.应变测量采用惠斯通半桥法，为了提高测量灵敏度，样品(4)与应变仪(3)连线采用电阻率比较小的镀银铜线三芯屏蔽电缆(9)；c.在样品温度磁场值达到预设值后，利用静态应变仪测量样品应变；d.消除误差：为了扣除掉引线电阻带来测量上的误差，在测量刚开始时测量一个数值，后面每测量一个值都用第一个值的相对变化来表示，这样就可以得到材料相对应变值。
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