[发明专利]一种制备含SiO2的金属氧化物复合薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 201010277009.9 申请日: 2010-09-09
公开(公告)号: CN102005500A 公开(公告)日: 2011-04-06
发明(设计)人: 张俊;王文静;周春兰 申请(专利权)人: 中国科学院电工研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;C25D11/32
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 关玲
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种制备含SiO2的金属氧化物复合薄膜的方法,首先在硅片(1)表面丝印一层金属浆料,烧结后,再在强酸性溶液中去除硅片(1)表面的金属电极层和金属与硅的合金层(3);然后清洗硅片表面痕迹,得到该金属的有效掺杂层(2);或再将该硅片(1)在碱性刻蚀溶液中刻蚀10s-12min,得到掺该金属的有效掺杂层内层(2);然后采用阳极氧化的方法制得含SiO2的金属氧化物复合薄膜(4)。再经过退火,即可得到所需的薄膜。
搜索关键词: 一种 制备 sio sub 金属 氧化物 复合 薄膜 方法
【主权项】:
一种制备含SiO2的金属氧化物复合薄膜的方法,首先选取P型或N型硅片,所述的硅片经过标准的RCA清洗,或经制绒清洗,或在清洁的硅片上经过磷或硼扩散,沉积氧化硅薄膜或氮化硅薄膜,其特征在于,所述的制备方法还包括以下工艺步骤:(1)丝印金属浆料:在经除去表面污染或经过磷或硼扩散,沉积氧化硅薄膜或氮化硅薄膜的清洁硅片(1)上丝印所需要的图形,然后在温度高于所述金属和硅共熔的合金点以上的烧结炉中烧结2s~10min;(2)制备掺所述第(1)步中的金属的有效掺杂层:将步骤(1)制得的硅片浸入强酸溶液中,加热去除所述硅片的金属电极层和金属与硅的合金层;然后取出硅片,清洗硅片表面痕迹,得到所述金属的有效掺杂层;或再将硅片置于碱性溶液中刻蚀10s‑12min,得到所述金属的有效掺杂层内层;(3)阳极氧化:将步骤(2)制备得到的硅片置于阳极氧化设备的电极阳极端,加电压,使所述硅片在导电溶液中反应2‑600min;电极阴极选用任何不与导电溶液反应的导电电极或硅片;之后,取出硅片吹干,得到含SiO2的金属氧化物复合薄膜;(4)退火:将步骤(3)制得的复合膜烧结炉或真空退火炉中退火,即可得到具有钝化效果或绝缘特性的含SiO2的金属氧化物复合薄膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电工研究所,未经中国科学院电工研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010277009.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top