[发明专利]用于改进电容测量的方法、电容计、计算机程序及其产品有效

专利信息
申请号: 201010255489.9 申请日: 2010-08-16
公开(公告)号: CN102023260A 公开(公告)日: 2011-04-20
发明(设计)人: A·布罗丁;J·利斯玛特斯;J·斯维德伦德;H·O·弗罗杰德 申请(专利权)人: ABB技术有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26;G01R31/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华;庞淑敏
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 发明公开了一种用于使用电容计来测量电容的方法、一种用于测量电容的电容计、一种用于测量电容的计算机程序和一种计算机程序产品。该电容计包括具有可控频率的AC电源,该可控频率被馈送至电容器以测量它的电容。该方法包括以下步骤:在电容计中使用第一频率来进行电容的第一测量;当电容的第一测量表明电容在阈值电容以下时,在电容计中利用使用第二频率的电容的第二测量来进行更低电容测量;以及当电容的第一测量表明电容在阈值电容以上时,在电容计中利用使用第三频率的电容的第二测量来进行更高电容测量,该第三频率低于第二频率。
搜索关键词: 用于 改进 电容 测量 方法 计算机 程序 及其 产品
【主权项】:
一种用于使用电容计来测量电容的方法,所述电容计包括具有可控频率的AC电源,所述可控频率被馈送至电容器以测量它的电容,所述方法包括以下步骤:在所述电容计中使用第一频率来进行所述电容的第一测量;当所述电容的所述第一测量表明所述电容在阈值电容以下时,在所述电容计中利用使用第二频率的所述电容的第二测量,来进行更低电容测量;并且当所述电容的所述第一测量表明所述电容在阈值电容以上时,在所述电容计中利用使用第三频率的所述电容的第二测量,来进行更高电容测量,所述第三频率低于所述第二频率。
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