[发明专利]物质光学特性的检测系统无效
| 申请号： | 201010177602.6 | 申请日： | 2010-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN101825493A | 公开（公告）日： | 2010-09-08 |
| 发明（设计）人： | 徐林;徐剑秋;张帅一;徐茸茸 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01M11/02;G01N1/28 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种物质光学特性的检测系统，包括半导体泵浦源，沿该半导体泵浦源的激光输出方向依次是整形及耦合装置、二向色镜和光纤，所述的二向色镜与光路呈45°放置，所述的光纤靠近所述的二向色镜一端为平面称为近端平面，另一端为斜面称为远端斜面，待测物质液体小球置于所述的光纤的远端斜面上，在所述的二向色镜反射方向依次是准直透镜和光谱分析仪。本发明检测系统具有结构简单，荧光光谱强，易于检测等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 物质 光学 特性 检测 系统 | ||
【主权项】：
一种物质光学特性的检测系统，特征在于：其构成包括半导体泵浦源(101)，沿该半导体泵浦源(101)的激光输出方向依次是整形及耦合装置(102)、二向色镜(103)和光纤(104)，所述的二向色镜(103)与光路呈45°放置，所述的光纤(104)靠近所述的二向色镜(103)一端为平面称为近端平面，另一端为斜面称为远端斜面，待测物质液体小球(107)置于所述的光纤(104)的远端斜面上，在所述二向色镜(103)的反射方向依次是准直透镜(105)和光谱分析仪(106)；所述的半导体泵浦源(101)发射的泵浦光的中心波长与待测物质(203)吸收波长重叠；所述的半导体泵浦源(101)发射的泵浦光通过整形及耦合装置(102)后聚焦到所述的光纤(104)的近端平面，所述的待测物质液体小球(107)在所述的半导体泵浦源(101)发射的泵浦光的激发下产生荧光并放大，该荧光由所述的光纤(104)的远端斜面输入、光纤(104)近端平面输出，经所述的二向色镜(103)反射经准直透镜(105)准直输入所述的光谱分析仪(106)。
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