[发明专利]阵列基板及其制造方法有效
申请号: | 201010175833.3 | 申请日: | 2010-05-14 |
公开(公告)号: | CN102244034A | 公开(公告)日: | 2011-11-16 |
发明(设计)人: | 常有军;刘还平 | 申请(专利权)人: | 北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/02;G02F1/1362 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 100176 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种阵列基板及其制造方法,其中阵列基板包括:衬底基板以及形成在衬底基板上的数据线、第一电极、第二电极、沟道、掺杂半导体层、半导体层、栅绝缘层、像素电极、数据线接口、栅电极和栅线;数据线与第一电极连接,沟道位于第一电极和第二电极之间,掺杂半导体层形成在第一电极、第二电极和数据线的上方;半导体层形成在掺杂半导体层的上方,栅绝缘层形成在半导体层的上方,像素电极与第二电极连接,数据线接口穿透栅绝缘层、半导体层及掺杂半导体层与数据线连接;栅电极形成在栅绝缘层的上方,且位于沟道的上方,栅电极与栅线连接。本发明简化了工艺步骤,缩短了生产周期,提高了生产效率和良品率,降低了生产成本。 | ||
搜索关键词: | 阵列 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种阵列基板的制造方法,其特征在于,包括:在衬底基板上沉积源漏金属薄膜和掺杂半导体薄膜,通过第一次构图工艺形成包括数据线、第一电极、第二电极、沟道和掺杂半导体层的第一图形,其中所述数据线与所述第一电极连接,所述沟道位于所述第一电极和第二电极之间,所述掺杂半导体层形成在所述第一电极、所述第二电极和所述数据线的上方;在形成所述第一图形的衬底基板上沉积半导体薄膜和栅绝缘层薄膜,通过第二次构图工艺后沉积透明导电薄膜,采用剥离技术形成包括半导体层、栅绝缘层、像素电极和数据线接口的第二图形,其中所述像素电极与所述第二电极连接,所述数据线接口与所述数据线连接;在形成所述第一图形和所述第二图形的衬底基板上沉积栅金属薄膜,采用单色调掩膜板,通过第三次构图工艺形成包括栅电极和栅线的第三图形,所述栅电极与所述栅线连接,所述栅电极位于所述沟道的上方。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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