[发明专利]阵列基板及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201010175833.3 申请日: 2010-05-14
公开(公告)号: CN102244034A 公开(公告)日: 2011-11-16
发明(设计)人: 常有军;刘还平 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77;H01L27/02;G02F1/1362
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 刘芳
地址: 100176 北*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种阵列基板及其制造方法,其中阵列基板包括:衬底基板以及形成在衬底基板上的数据线、第一电极、第二电极、沟道、掺杂半导体层、半导体层、栅绝缘层、像素电极、数据线接口、栅电极和栅线;数据线与第一电极连接,沟道位于第一电极和第二电极之间,掺杂半导体层形成在第一电极、第二电极和数据线的上方;半导体层形成在掺杂半导体层的上方,栅绝缘层形成在半导体层的上方,像素电极与第二电极连接,数据线接口穿透栅绝缘层、半导体层及掺杂半导体层与数据线连接;栅电极形成在栅绝缘层的上方,且位于沟道的上方,栅电极与栅线连接。本发明简化了工艺步骤,缩短了生产周期,提高了生产效率和良品率,降低了生产成本。
搜索关键词: 阵列 及其 制造 方法
【主权项】:
一种阵列基板的制造方法,其特征在于,包括:在衬底基板上沉积源漏金属薄膜和掺杂半导体薄膜,通过第一次构图工艺形成包括数据线、第一电极、第二电极、沟道和掺杂半导体层的第一图形,其中所述数据线与所述第一电极连接,所述沟道位于所述第一电极和第二电极之间,所述掺杂半导体层形成在所述第一电极、所述第二电极和所述数据线的上方;在形成所述第一图形的衬底基板上沉积半导体薄膜和栅绝缘层薄膜,通过第二次构图工艺后沉积透明导电薄膜,采用剥离技术形成包括半导体层、栅绝缘层、像素电极和数据线接口的第二图形,其中所述像素电极与所述第二电极连接,所述数据线接口与所述数据线连接;在形成所述第一图形和所述第二图形的衬底基板上沉积栅金属薄膜,采用单色调掩膜板,通过第三次构图工艺形成包括栅电极和栅线的第三图形,所述栅电极与所述栅线连接,所述栅电极位于所述沟道的上方。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京京东方光电科技有限公司,未经北京京东方光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010175833.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top