[发明专利]具有使用场传感器的调节系统的微波炉有效

专利信息
申请号: 201010157439.7 申请日: 2010-04-01
公开(公告)号: CN101860996A 公开(公告)日: 2010-10-13
发明(设计)人: N·尤尔夫;N·奥尔;H·弗雷德里克;C·哈坎 申请(专利权)人: 惠而浦有限公司
主分类号: H05B6/68 分类号: H05B6/68;H05B6/80
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 崔幼平
地址: 美国密*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供一种微波加热设备和一种使用微波来加热负载的方法。微波加热设备(100)包括适于接收待加热负载的腔(150)和用于分别经由至少两个供给口(120、122)将微波能量供给到所述腔中的至少两个微波源(110、112)。所述微波加热设备还包括适于测量所述腔中的微波能量的场强的至少两个场传感器(160、162)。第一场传感器(160)布置在第一位置处,用于测量代表从第一供给口(120)供给的模式的场强,而第二场传感器(162)布置在第二位置处,用于测量代表从第二供给口(122)供给的模式的场强。所述微波加热设备还包括连接到所述微波源和所述场传感器的控制单元(180),用于根据所测得的场强来调节所述微波源。本发明的优点在于其能够均匀地加热腔中的负载。
搜索关键词: 具有 使用 传感器 调节 系统 微波炉
【主权项】:
一种微波加热设备(100),包括:适于接收待加热负载的腔(150);连接到所述腔的至少两个微波源(110、112),用于分别经由至少两个供给口(120、122)将微波能量供给到所述腔中;适于测量所述腔中的微波能量的场强的至少两个场传感器(160、162),其中,第一场传感器(160)布置在第一位置处,用于测量代表从第一供给口(120)供给的模式的场强,第二场传感器(162)布置在第二位置处,用于测量代表从第二供给口(122)供给的模式的场强;以及控制单元(180),所述控制单元连接到所述微波源并适于根据所测量到的场强来调节所述微波源。
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