[发明专利]具有使用场传感器的调节系统的微波炉有效
申请号: | 201010157439.7 | 申请日: | 2010-04-01 |
公开(公告)号: | CN101860996A | 公开(公告)日: | 2010-10-13 |
发明(设计)人: | N·尤尔夫;N·奥尔;H·弗雷德里克;C·哈坎 | 申请(专利权)人: | 惠而浦有限公司 |
主分类号: | H05B6/68 | 分类号: | H05B6/68;H05B6/80 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 崔幼平 |
地址: | 美国密*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 使用 传感器 调节 系统 微波炉 | ||
1.一种微波加热设备(100),包括:
适于接收待加热负载的腔(150);
连接到所述腔的至少两个微波源(110、112),用于分别经由至少两个供给口(120、122)将微波能量供给到所述腔中;
适于测量所述腔中的微波能量的场强的至少两个场传感器(160、162),其中,第一场传感器(160)布置在第一位置处,用于测量代表从第一供给口(120)供给的模式的场强,第二场传感器(162)布置在第二位置处,用于测量代表从第二供给口(122)供给的模式的场强;以及
控制单元(180),所述控制单元连接到所述微波源并适于根据所测量到的场强来调节所述微波源。
2.如权利要求1所述的微波加热设备,其特征在于,所述第一场传感器布置在所述腔的与从所述第一供给口供给的模式的最大场强对应的区域中,所述第二场传感器布置在所述腔的与从所述第二供给口供给的模式的最大场强对应的区域中。
3.如权利要求1或2所述的微波加热设备,其特征在于,从所述第一供给口供给的模式是热中心模式,而从所述第二供给口供给的模式是冷中心模式。
4.如前述权利要求中的任一项所述的微波加热设备,其特征在于,所述控制单元适于调节所述微波源,以便经由所述供给口将微波顺序供给到所述腔中。
5.如前述权利要求中的任一项所述的微波加热设备,其特征在于,针对工作周期,所述控制单元适于调节以下各项中的至少一个:经由所述供给口将微波顺序供给到所述腔中的次序;所述微波源在所述工作周期的一部分期间的工作时间;由所述微波源中的至少一个微波源产生的微波的频率;和所述微波源中的至少一个微波源的输出功率水平。
6.如前述权利要求中的任一项所述的微波加热设备,其特征在于,还包括布置在所述腔的第三位置处的至少一个额外的传感器(164),用于测量代表从所述第一供给口或所述第二供给口供给的模式中的一个的场强。
7.如权利要求6所述的微波加热设备,其特征在于,所述额外的传感器布置在所述腔的与从所述第一供给口或所述第二供给口供给的模式的最小场强对应的区域中。
8.如前述权利要求中的任一项所述的微波加热设备,其特征在于,还包括测量单元(166),用于测量从所述腔反射的、作为与所述第一供给口或所述第二供给口中的其中一个相关联的微波源的工作频率的函数的信号。
9.如权利要求1-3中的任一项所述的微波加热设备,其特征在于,所述控制单元适于调节所述微波源,以便将微波同时供给到所述腔中。
10.如权利要求9所述的微波加热设备,其特征在于,所述控制单元适于调节包括以下参数的组中的至少一个参数:由所述微波源中的至少一个微波源产生的微波的频率、功率和相位。
11.如前述权利要求中的任一项所述的微波加热设备,其特征在于,所述控制单元适于调节所述微波源,使得所测得的场强之间的差值低于预定值、包括在预定范围内或保持不变。
12.一种使用分别通过至少两个供给口(120、122)从至少两个微波源(110、112)供给到腔(150)中的微波来加热布置在所述腔中的负载的方法,所述方法包括:
在第一位置处和在第二位置处测量(610)腔中的微波能量的场强,其中在第一位置处测量腔中的微波能量的场强用以测量代表从第一供给口(120)供给的模式的场强,而在第二位置处测量腔中的微波能量的场强用以测量代表从第二供给口(122)供给的模式的场强;以及
根据所测得的场强调节(620)所述微波源。
13.如权利要求12所述的方法,其特征在于,对包括以下参数的组中的至少一个参数进行调节:由所述微波源中的至少一个微波源产生的微波的频率、输出功率水平、在工作周期的一部分期间的工作时间、和相位。
14.如权利要求12或13所述的方法,其特征在于,所述微波源同时或顺序地工作。
15.如权利要求12-14中的任一项所述的方法,还包括:
对于从与工作周期的两个相继部分之间的场强变化被识别出的位置之一对应的供给口供给的微波,测量(630)从所述腔反射的信号;和/或
判断(640)从所述供给口之一供给的模式是否发生了失真。
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