[发明专利]电阻变化型存储器装置及其操作方法有效
申请号: | 201010149797.3 | 申请日: | 2010-04-08 |
公开(公告)号: | CN101866941A | 公开(公告)日: | 2010-10-20 |
发明(设计)人: | 大塚涉 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | H01L27/24 | 分类号: | H01L27/24;G11C13/00 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 王安武;南霆 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供了一种电阻变化型存储器装置及其操作方法,电阻变化型存储器装置包括:存储器单元,所述存储器单元各自具有其中存储元件和存取晶体管串联连接的电流路径,其中所述存储元件的电阻根据所施加的电压而变化;第一配线,所述第一配线各自连接到所述电流路径的一端;第二配线,所述第二配线各自连接到所述电流路径的另一端;阱,所述阱是其中形成所述存取晶体管的半导体区域;以及驱动电路。 | ||
搜索关键词: | 电阻 变化 存储器 装置 及其 操作方法 | ||
【主权项】:
一种电阻变化型存储器装置,包括:存储器单元,所述存储器单元各自具有其中存储元件和存取晶体管串联连接的电流路径,其中所述存储元件的电阻根据所施加的电压而变化;第一配线,所述第一配线各自连接到所述电流路径的一端;第二配线,所述第二配线各自连接到所述电流路径的另一端;阱,所述阱是其中形成所述存取晶体管的半导体区域;以及驱动电路,所述驱动电路适合于在将数据写入所述存储器单元的操作和将数据从所述存储器单元擦除的操作中的一者的过程中,通过在所述第一配线与所述第二配线之间施加电压,将电流经由所述存取晶体管提供给所述存储元件,所述操作中的一者被称作第一操作,所述驱动电路也适合于在所述数据写入操作和所述数据擦除操作中的另一者的过程中,通过在所述第一配线或所述第二配线与所述阱之间施加与所述第一操作的极性相反的电压,将电流沿着与所述第一操作的电流方向相反的方向提供给所述存储元件,所述操作中的另一者被称作第二操作。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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