[发明专利]使用公共测量器测量不同类型长形条的磁头电阻的方法有效

专利信息
申请号: 201010144633.1 申请日: 2010-03-31
公开(公告)号: CN102213732A 公开(公告)日: 2011-10-12
发明(设计)人: 刘剑 申请(专利权)人: 新科实业有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫
地址: 中国香港新界沙田香*** 国省代码: 中国香港;81
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摘要: 发明公开了一种使用公共测量器测量不同类型长形条的磁头电阻的方法,包括判断长形条的类型,若为飞米型(femto-type)长形条,则前电性研磨导向触点分别接触探针板的前针脚,后电性研磨导向触点分别接触后针脚;向前针脚施加第一电压,并向后针脚施加不等于第一电压的第二电压。若为分路型(shunting-type)长形条,则将分路型长形条的公共测试触点接触探针板的一个前针脚,磁头的测试触点分别接触余下的前针脚;向与测试触点接触的前针脚施加第三电压,并向与公共测试触点接触的前针脚施加不等于第三电压的第四电压。本发明可缩减机器的停工期及人力资源,并可避免探针板的频繁拆卸及更换,从而避免探针板受损。
搜索关键词: 使用 公共 测量器 测量 不同类型 长形条 磁头 电阻 方法
【主权项】:
一种使用公共测量器测量不同类型长形条的磁头电阻的方法,所述长形条的类型包括飞米型长形条及分路型长形条,所述飞米型长形条包括一排磁头,每一所述磁头具有一前电性研磨导向触点及一后电性研磨导向触点,所述分路型长形条包括至少一组磁头及至少一个与该组磁头相连的公共测试触点,所述分路型长形条的每一磁头具有一测试触点,所述测量器包括一探针板,所述探针板具有一排前针脚及一排后针脚,所述方法包括:(1)将所述长形条放置于所述测量器上;(2)判断所述长形条的类型,若为飞米型长形条,则执行步骤(3)‑(4);若为分路型长形条,则执行步骤(5)‑(6);(3)所述前电性研磨导向触点分别接触所述探针板的前针脚,所述后电性研磨导向触点分别接触所述后针脚;(4)向所述前针脚施加第一电压,并向所述后针脚施加不等于第一电压的第二电压,从而测出磁头电阻;(5)所述分路型长形条的公共测试触点接触所述探针板的一个所述前针脚,所述磁头的测试触点分别接触余下的所述前针脚;(6)向与所述测试触点接触的所述前针脚施加第三电压,并向与所述公共测试触点接触的所述前针脚施加不等于第三电压的第四电压,从而测出磁头电阻。
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