[发明专利]使用公共测量器测量不同类型长形条的磁头电阻的方法

权利要求书

1.一种使用公共测量器测量不同类型长形条的磁头电阻的方法，所述长形条的类型包括飞米型长形条及分路型长形条，所述飞米型长形条包括一排磁头，每一所述磁头具有一前电性研磨导向触点及一后电性研磨导向触点，所述分路型长形条包括至少一组磁头及至少一个与该组磁头相连的公共测试触点，所述分路型长形条的每一磁头具有一测试触点，所述测量器包括一探针板，所述探针板具有一排前针脚及一排后针脚，所述方法包括：

(1)将所述长形条放置于所述测量器上；

(2)判断所述长形条的类型，若为飞米型长形条，则执行步骤(3)-(4)；若为分路型长形条，则执行步骤(5)-(6)；

(3)所述前电性研磨导向触点分别接触所述探针板的前针脚，所述后电性研磨导向触点分别接触所述后针脚；

(4)向所述前针脚施加第一电压，并向所述后针脚施加不等于第一电压的第二电压，从而测出磁头电阻；

(5)所述分路型长形条的公共测试触点接触所述探针板的一个所述前针脚，所述磁头的测试触点分别接触余下的所述前针脚；

(6)向与所述测试触点接触的所述前针脚施加第三电压，并向与所述公共测试触点接触的所述前针脚施加不等于第三电压的第四电压，从而测出磁头电阻。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在将所述长形条放置于所述测量器之前还包括：将长形条信息存储至一数据库。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于：所述长形条信息包括长形条的类型信息及磁头的个数信息。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，判断所述长形条的类型之后，还包括：访问并调用所述数据库中的长形条信息。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述探针板具有10个前针脚及10个后针脚。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述长形条还包括形成在每一所述磁头旁的切割部。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于：所述前电性研磨导向触点与所述后电性研磨导向触点形成于所述飞米型长形条的切割部上。

8.如权利要求6所述的方法，其特征在于：所述测试触点与所述公共测试触点形成于所述分路型长形条的切割部上。

9.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一电压为+1V，所述第二电压为0V，所述第三电压为+1V，所述第四电压为0V。