[发明专利]基于BIST的数据采集系统及其实现采集、自测试的方法

摘要

基于BIST的数据采集系统及其实现采集、自测试的方法，它涉及数据采集技术领域，它解决了现有的数据采集器可测性低、可靠性低的问题。本发明的数据采集系统主要包括FPGA控制模块、DSP主控制器、混合边界扫描芯片、边界扫描控制芯片和测试信号发生器，本发明的方法主要由FPGA控制模块完成数据采集功能，由DSP主控制器实现数据采集系统在数据采集和自测试之间的切换控制，由测试信号发生器实现测试信号的发出，由边界扫描控制芯片实现对FPGA的测试。本发明为提高数据采集系统的可测性发展提供了基础。

主权项

基于BIST的数据采集系统，它包括过零检测电路(2)、前置信号放大电路(3)、滤波器(6)、A/D转换模块(9)、第一锁相环(10)、FPGA控制模块(11)、DSP外围存储模块(13)和DSP主控制器(14)，其特征在于它还包括第一模拟通道开关(1)、混合边界扫描芯片(4)、第二模拟通道开关(5)、第三模拟通道开关(7)、D/A转换模块(8)、边界扫描控制芯片(12)、测试信号发生器(15)、计算机(16)、液晶屏(17)和键盘(18)，被采集信号经过第一模拟通道开关(1)输入至前置信号放大电路(3)的信号输入端和过零检测电路(2)的信号输入端，所述前置信号放大电路(3)输出信号经混合边界扫描芯片(4)输入至滤波器(6)的信号输入端，所述滤波器(6)经第三模拟通道开关(7)输入至A/D转换模块(9)的第一信号输入端，所述A/D转换模块(9)的信号输出端连接FPGA控制模块(11)的第一信号输入端，所述FPGA控制模块(11)的第二信号输入端连接第一锁相环(10)的信号输出端，所述FPGA控制模块(11)的第三信号输入端通过SPI/UART总线连接DSP主控制器(14)的信号输出端，所述FPGA控制模块(11)的第一信号输出端连接A/D转换模块(9)的第二信号输入端，所述FPGA控制模块(11)的第二信号输出端连接A/D转换模块(9)的第三信号输入端，所述FPGA控制模块(11)的第三信号输出端连接DSP主控制器(14)的第一信号输入端，所述DSP主控制器(14)的第一信号输出端连接计算机(16)的信号输入端，所述DSP主控制器(14)的第二信号输出端连接液晶屏(17)的信号输入端，所述DSP主控制器(14)的第三信号输出端连接DSP外围存储模块(13)的信号输入端，所述DSP主控制器(14)的第二信号输入端连接键盘(18)的数据输出端，所述DSP主控制器(14)的第四信号输出端连接边界扫描控制芯片(12)的信号输入端，所述DSP主控制器(14)的第五信号输出端连接D/A转换模块(8)的信号输入端，所述DSP主控制器(14)的第六信号输出端连接测试信号发生器(15)的信号输入端，D/A转换模块(8)的信号输出端均与第一模拟通道开关(1)的一个受控端、第二模拟通道开关(5)的一个受控端和第三模拟通道开关(7)的一个受控端连接，FPGA控制模块(11)的模拟通道开关信号控制端均与第三模拟通道开关(7)的另一个受控端、第二模拟通道开关(5)的另一个受控端和第一模拟通道开关(1)的另一个受控端连接，测试信号发生器(15)的信号输出端通过混合电路测试总线连接到混合边界扫描芯片(4)的信号输入端，过零检测电路(2)的信号输出端经第二模拟通道开关(5)连接到第一锁相环(10)的信号输入端。