[发明专利]自适应光学系统中波前传感器与校正器对准装置有效

专利信息
申请号: 201010121435.3 申请日: 2010-03-10
公开(公告)号: CN101806957A 公开(公告)日: 2010-08-18
发明(设计)人: 顾乃庭;杨泽平;黄林海;饶长辉 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G02B26/06 分类号: G02B26/06;G01J9/02
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 成金玉;贾玉忠
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 自适应光学系统中波前传感器与校正器对准装置,由波前传感器、波前记录器、波前校正器、能够平移和旋转的电控平移台、位置失配评估器、平移台控制器和计算机组成;通过计算机给波前校正器独立单元施加电压的方式标记波前校正器的位置,利用波前传感器自身的波前探测能力测量波前传感器与波前校正器之间的位置失配。光束经波前校正器反射后进入波前传感器,由波前记录器记录波前传感器探测到的波前校正器面形信息,位置失配评估器根据波前记录器记录信息计算并输出位置失配数据到平移台控制器中,最后由平移台控制器控制电控平移台完成对波前传感器的位置调整。本发明能够准确对准波前传感器与波前校正器的位置,大大提高两者对准精度和对准效率,保证自适应系统的波前控制能力。
搜索关键词: 自适应 光学系统 中波 传感器 校正 对准 装置
【主权项】:
自适应光学系统中波前传感器与校正器对准装置,其特征在于包括:计算机、波前校正器、波前传感器、电控平移台、波前记录器、位置失配评估器和平移台控制器;计算机通过给波前校正器中的多个独立驱动单元施加电压方式标记波前校正器的位置,波前传感器探测到波前校正器中各独立驱动单元被标记后引起的波前面形分布或波前斜率分布,通过波前记录器记录后送位置失配评估器,位置失配评估器按照下述公式(1)或公式(2)计算出波前校正器中各被标记的独立驱动单元的中心位置;若波前探测器采用干涉仪,干涉仪探测到的标记后的波前校正器的波前面形分布设为φ(m,n),m=1,2,…,M,n=1,2,…,N,(M,N)为干涉仪有效探测单元的行数和列数,φ(m,n)为第m行、第n列的相位值,则各被标记独立驱动单元的中心位置采用(1)式计算: x 0 = Σ m = 1 M Σ n = 1 N x ( m , n ) | φ ( m , n ) | k Σ m = 1 M Σ n = 1 N | φ ( m , n ) | k , y 0 = Σ m = 1 M Σ n = 1 N y ( m , n ) | φ ( m , n ) | k Σ m = 1 M Σ n = 1 N | φ ( m , n ) | k - - - ( 1 ) (1)式中,(x(m,n),y(m,n))表示第m行、第n列位置处的坐标值,(x0,y0)为被标记的独立驱动单元的中心位置,k为权重因子;若波前探测器采用哈特曼波前传感器,哈特曼波前传感器探测到的标记后的波前校正器沿x方向和沿y方向的波前斜率分布分别为gx(c,p),gy(x,p),c=1,2,…,C,p=1,2,…,P,(C,P)为哈特曼波前传感器有效子孔径的行数和列数,gx(c,p),gy(c,p)分别为第c行、第p列沿x方向和沿y方向的斜率值,各被标记的独立驱动单元的中心位置采用(2)式计算: x 0 = Σ c = 1 C Σ p = 1 P x ( c , p ) | g x ( c , p ) | l Σ c = 1 C Σ p = 1 P | g x ( c , p ) | l , y 0 = Σ c = 1 C Σ p = 1 P y ( c , p ) | g y ( c , p ) | l Σ c = 1 C Σ p = 1 P | g y ( c , p ) | l - - - ( 2 ) (2)式中,(x0,y0)为被标记独立驱动单元的中心位置,(x(c,p),y(c,p))表示第c行、第p列位置处的坐标值,l为指数因子;设波前校正器被标记独立驱动单元数为n0(n0≥2),第i号被标记驱动单元的理论中心位置设为(x0i,y0i)1≤i≤n0,而根据公式(1)式或公式(2)计算得到的第i号被标记驱动单元测量中心位置表示为(xi,yi),1≤i≤n0,则波前传感器(3)与波前校正器(1)沿水平和竖直方向的平移位置失配Δx、Δy以及波前传感器与波前校正器中心的旋转位置失配Δθ采用(3)式进行计算: Δx = K x - Σ i = 1 n 0 x i / n 0 Δy = K y - Σ i = 1 n 0 y i / n 0 Δθ = 2 Σ k = 2 n 0 Σ j = 1 k - 1 Δθ k , j n 0 ( n 0 - 1 ) - - - ( 3 ) (3)式中,Kx,Ky为与波前校正器被标记独立单元理论坐标位置(x0i,y0i),1≤i≤n0有关的常数,Δθk,j为第k个标记独立驱动单元中心位置(xk,yk)与第j个标记独立驱动单元中心位置(xj,yk)组成的直线Lkj与对应理论中心(xk,yk)位置组成的直线L0kj之间的夹角,Kx,Ky与Δθk,j的计算公式分别如(4)式所示: K x = Σ i = 1 n 0 x 0 i / n 0 K y = Σ i = 1 n 0 y 0 i / n 0 Δθ k , j = arctan [ ( y 0 j - y 0 k ) ( x j - x k ) - ( y j - y k ) ( x 0 - x 0 k ) ( x 0 j - x 0 k ) ( x j - x k ) + ( y 0 j - y 0 k ) ( y j - y k ) ] - - - ( 4 ) 最终,位置失配评估器计算出波前传感器与波前校正器位置失配评估指标,即波前传感器与波前校正器沿水平方向平移位置失配Δx、沿竖直方向平移位置失配Δy和波前传感器绕波前校正器中心旋转失配Δθ;位置失配评估器将所述的位置失配数据输出到平移台控制器中,最后由平移台控制器发送平移和旋转命令控制平移和旋转相对独立的电控平移台对波前传感器进行位置调整,实现波前传感器与波前校正器的精确智能对准,达到提高自适应光学系统波前校正能力的目的。
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  • 2017-12-01 - 2018-09-18 - G02B26/06
  • 基于实时相位差异技术的无波前探测自适应光学系统,属于光学技术领域,针对目前无波前探测自适应光学技术存在的问题,待校正波前像差经过变形镜补偿后的残余波前入射到分光棱镜上,经分光棱镜分为两束光线,分别由两个成像透镜将其会聚至对应的两个CCD相机上,得到焦面和离焦面模糊像斑;将图像信息作为已知输入量,利用线性相位差异算法模块直接求得对应的驱动控制电压,通过波前校正器驱动控制电路模块施加到变形镜上,使变形镜产生去除波前畸变的补偿量,然后再利用成像系统采集校正后系统对应的焦面及离焦面图像,再次计算此时对应的校正电压,如此反复迭代,直至波前误差得到完全校正;便于在自适应光学闭环系统上应用。
  • 一种基于压电陶瓷的高谐振频率光纤相位调制器-201810588982.9
  • 马阎星;宋涛;支冬;粟荣涛;马鹏飞;周朴 - 中国人民解放军国防科技大学
  • 2018-06-08 - 2018-09-07 - G02B26/06
  • 一种基于压电陶瓷的高谐振频率光纤相位调制器,包括压电陶瓷、压电陶瓷电极以及传能光纤,压电陶瓷电极焊接在压电陶瓷的两侧电极上,用于加载调制电信号,其特征在于,还包括两个陶瓷结构件,两个陶瓷结构件相对设置;压电陶瓷置于两个陶瓷结构件之间且压电陶瓷的两侧面分别与两陶瓷结构件的内侧面紧密贴合,形成一个类圆柱体;传能光纤紧密缠绕在的类圆柱体的外表面且通过胶接固定。本发明将压电陶瓷设置在两个半圆柱形的陶瓷结构件之间,由于陶瓷材料硬度高,密度小,谐振频率高,可有效提高该类型相位调制器的相位调制频率。通过本发明提供的该相位调制器可实现较高功率(10W以上)、低插损、兆赫兹量级相位调制。
  • 波前相位校正装置-201410085875.6
  • 黄磊;巩马理;马兴坤;薛峤;边琪 - 清华大学
  • 2014-03-10 - 2018-08-28 - G02B26/06
  • 本发明涉及光学仪器领域,提供了三种波前相位校正装置。针对现有技术中连续表面变形镜阵列密度受限、波前校正效果有限且制造工艺要求高、制造成本高的问题,本发明将一个完整的多致动器致动的连续表面变形镜分割成多个由单致动器或小数目致动器组致动的连续表面变形镜单元,并对于不同的应用情形,提供了单点单层式、单点双层式和多点式的波前相位校正装置,能够增大波前相位校正的等效致动器密度,从而优化了波前相位校正效果,简化了连续表面变形镜的制造工艺、降低制作成本。
  • 一种光束调相调向装置及其使用方法-201810330257.1
  • 陈陶;徐正祥;李飞燕;梁忠诚;赵瑞;孔梅梅;徐荣青;谌静 - 南京邮电大学
  • 2018-04-13 - 2018-07-24 - G02B26/06
  • 本发明涉及一种光束调相调向装置及其使用方法,包括通过微流道相互连接的功能内芯及驱动内芯,所述功能内芯与对称设置左、右盖片形成由调相腔及调向腔构成的功能腔,所述调相腔及调向腔内分别放置有互不相溶且折射率各异的三种液体材料,并通过液体材料分别组合构成调相液柱及调向液柱,本发明通过在驱动内芯左侧施加压力,改变第一、二液体在驱动腔内的填充比例,改变从左至右传播的光束相位差,完成调相;并通过控制调向腔内四块导电材料电极的电压,控制光束从左至右传播的方向,实现平面二维可调,完成调向。本发明组合调相及调向功能在同一装置中,解决了光学综合孔径共相难的问题,使其共相过程简化、减小共相误差。
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