[发明专利]芯线检测设备和芯线检测方法无效
| 申请号： | 200980131094.3 | 申请日： | 2009-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN102119325A | 公开（公告）日： | 2011-07-06 |
| 发明（设计）人： | 松井隆;户毛邦弘;仓岛利雄;富田茂 | 申请（专利权）人： | 日本电信电话株式会社 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 余朦;熊传芳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供能够对多孔单模光纤进行芯线检测的芯线检测设备，其包括：通过多个突起部(23)对光纤(1)施加载荷(F)来形成光栅的光栅形成器具(20)、和检测光纤(1)所发生的漏光(λ1′)的受光器(30)，多个突起部(23)以0.24mm～0.75mm范围内的周期Λ进行配置。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 设备 方法 | ||
【主权项】：
芯线检测设备，其特征在于，包括：光栅形成装置，通过多个突起部对光纤施加载荷来形成光栅；以及受光装置，检测由所述光栅发生的漏光。
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