[发明专利]芯线检测设备和芯线检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及作为光传输系统中光导通试验的试验装置的芯线检测设备及芯线检测方法，具体而言，涉及使用了长周期光栅的芯线检测设备及芯线检测方法。

背景技术

随着FTTH(Fiber To The Home：光纤到户)服务的普及，光纤路的施工和维护工作增加。现有光纤的允许弯曲半径较大而可操作性较差。因此，近年来，人们开发了各种弯曲损耗特性得到改善、允许弯曲半径变小的光纤。特别是，专利文献1中记载的多孔单模光纤具有优良的弯曲损耗特性，而且与现有的单模光纤的连接性也优良，因此对其的研究在积极地推进。

为了在光纤路的施工、使用时对任意的光纤芯线进行确认，需要能够在作业现场找到任意的光纤芯线。芯线检测设备(例如，参照专利文献2)由于能够将光纤中传播的光的一部分取出从而确认该光纤是否为所需要的光纤，因此被广泛利用。芯线检测设备通过使光纤中形成弯曲部并对由弯曲部漏出的光进行检测来判断光是否在该光纤中传播。

专利文献1：日本国专利公报“特许第3854627号”

专利文献2：日本国专利公报“特许第3407812号”

发明内容

但是，较之于现有的单模光纤，专利文献1所示的多孔单模光纤的弯曲损耗非常小，因此，无法通过现有的芯线检测方法进行芯线检测。

因此，本发明为解决上述问题而完成，其目的在于提供能够对多孔单模光纤进行芯线检测的芯线检测设备及芯线检测方法。

解决上述问题的本发明第1方面的芯线检测设备，其特征在于，包括：光栅形成装置，通过多个突起部对光纤施加载荷来形成光栅；以及受光装置，检测由所述光栅发生的漏光。

解决上述问题的本发明第2方面的芯线检测设备，其特征在于，在第1方面的芯线检测设备中，所述多个突起部的周期沿所述光纤的设置方向变化。

解决上述问题的本发明第3方面的芯线检测设备，其特征在于，在第1或第2方面的芯线检测设备中，所述载荷为8N以上。

解决上述问题的本发明第4方面的芯线检测设备，其特征在于，在第1～3方面的任一项所述的芯线检测设备中，还包括对所述光纤赋予弯曲的光纤弯曲赋予装置，所述弯曲的曲率半径处于8mm～12mm范围内。

解决上述问题的本发明第5方面的芯线检测设备，其特征在于，在第1～4方面的任一项所述的芯线检测设备中，所述多个突起部以0.24mm～0.75mm范围内的周期进行配置。

解决上述问题的本发明第6方面的芯线检测设备，其特征在于，在第4方面的芯线检测设备中，所述多个突起部配置于所述光纤弯曲赋予装置。

解决上述问题的本发明第7方面的芯线检测方法，其特征在于，通过多个突起部对光纤施加载荷来形成长周期光栅，其中，所述多个突起部以0.24mm～0.75mm范围内的周期进行配置；通过检测由所述光纤发生的漏光来对光波在所述光纤中的导通进行确认。

解决上述问题的本发明第8方面的芯线检测方法，其特征在于，在第7方面的芯线检测方法中，通过改变所述多个突起部与所述光纤间的角度来形成所述长周期光栅。

解决上述问题的本发明第9方面的芯线检测方法，其特征在于，在第7或第8方面的芯线检测方法中，对所述光纤赋予弯曲，并检测由所述光纤发生的漏光。

根据本发明的芯线检测设备及芯线检测方法，能够对多孔单模光纤进行芯线检测。

附图说明

图1A是用于说明本发明第一实施方式的芯线检测设备的概略图。

图1B是表示通过本发明第一实施方式的芯线检测设备所具备的光栅形成器具来赋予应力的部位与折射率变化量的关系的图。

图1C是使用本发明第一实施方式的芯线检测设备进行芯线检测的流程图。

图2A是示意地表示具有6个空孔的多孔单模光纤的图。

图2B是示意地表示具有10个空孔的多孔单模光纤的图。

图3A是表示本发明第一实施方式的芯线检测设备中波长与损耗谱的关系的曲线图。

图3B是表示本发明第一实施方式的芯线检测设备中突起部周期与中心波长(损耗谱达到最大值的波长)的关系的曲线图。

图4是表示本发明第一实施方式的芯线检测设备中HAF的光栅周期对空孔结构的依赖性的一例的曲线图。

图5A是表示本发明第一实施方式的芯线检测设备中HAF的芯直径2a(μm)与光栅周期(μm)的关系的曲线图。

图5B是表示本发明第一实施方式的芯线检测设备中HAF的相对折射率差Δ(％)与光栅周期(μm)的关系的曲线图。