[发明专利]芯线检测设备和芯线检测方法无效
| 申请号： | 200980131094.3 | 申请日： | 2009-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN102119325A | 公开（公告）日： | 2011-07-06 |
| 发明（设计）人： | 松井隆;户毛邦弘;仓岛利雄;富田茂 | 申请（专利权）人： | 日本电信电话株式会社 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 余朦;熊传芳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 检测 设备 方法 | ||
【权利要求书】：
1.芯线检测设备，其特征在于，包括：
光栅形成装置，通过多个突起部对光纤施加载荷来形成光栅；以及
受光装置，检测由所述光栅发生的漏光。
2.如权利要求1所述的芯线检测设备，其特征在于，所述多个突起部的周期沿所述光纤的设置方向发生变化。
3.如权利要求1或2所述的芯线检测设备，其特征在于，所述载荷为8N以上。
4.如权利要求1～3中任一项所述的芯线检测设备，其特征在于，
还包括对所述光纤赋予弯曲的光纤弯曲赋予装置，
所述弯曲的曲率半径处于8mm～12mm的范围内。
5.如权利要求1～4中任一项所述的芯线检测设备，其特征在于，
所述多个突起部以0.24mm～0.75mm范围内的周期进行配置。
6.如权利要求4所述的芯线检测设备，其特征在于，
所述多个突起部配置于所述光纤弯曲赋予装置。
7.芯线检测方法，其特征在于，
通过多个突起部对光纤施加载荷来形成长周期光栅，其中，所述多个突起部以0.24mm～0.75mm范围内的周期进行配置；
通过对由所述光纤发生的漏光进行检测来判断光波在所述光纤中的导通。
8.如权利要求7所述的芯线检测方法，其特征在于，通过改变所述多个突起部与所述光纤间的角度来形成所述长周期光栅。
9.如权利要求7或8所述的芯线检测方法，其特征在于，对所述光纤赋予弯曲，检测由所述光纤发生的漏光。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日本电信电话株式会社，未经日本电信电话株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200980131094.3/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
