[实用新型]一种压力敏感芯片封装结构无效
申请号: | 200920244366.8 | 申请日: | 2009-12-16 |
公开(公告)号: | CN201548366U | 公开(公告)日: | 2010-08-11 |
发明(设计)人: | 王长虹;王金文;孙凤玲;方建雷;程颖 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十九研究所 |
主分类号: | G01L9/06 | 分类号: | G01L9/06 |
代理公司: | 哈尔滨市哈科专利事务所有限责任公司 23101 | 代理人: | 吴振刚 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 一种压力敏感芯片封装结构,具体涉及一种芯片的封装结构。本实用新型的产品主要由芯片、管壳、管座和转接端子组成,其特征在于管座壳体与转接端子通过电真空玻璃烧结工艺形成管座;压力敏感芯片通过玻璃粉烧结与管座连接;管座采用储能焊接的方式与敏感芯体的基座连接;管座与敏感芯体基座之间的储能焊接采用倒装结构,即敏感芯体工作时该焊口处于受压状态。该封装结构压力敏感芯体的使用温度范围在-55℃~250℃;敏感芯体耐压能力达到70MPa以上;并且本实用新型的敏感芯体具有安装焊接方便、耐腐蚀等特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 压力 敏感 芯片 封装 结构 | ||
【主权项】:
一种压力敏感芯片封装结构,主要由芯片、管座壳体和转接端子组成,其特征在于管座壳体与转接端子通过电真空玻璃烧结工艺形成管座;压力敏感芯片通过玻璃粉烧结与管座连接;管座采用储能焊接的方式与敏感芯体的基座连接;管座与敏感芯体基座之间的储能焊接采用倒装结构。
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