[实用新型]一种辐照样品非线性系数测量装置

摘要

一种辐照样品非线性系数测量装置由激光器、第一滤光片、分束片、样品室、第二滤光片、透镜、第一光功率计、样品台、样品台支架、样品和第二光功率计组成；样品台和样品台支架均置于样品室中；激光器发出的基频光经滤光片滤波后，被分束片分成两束，小部分反射进入第二光功率计，大部分透射进入样品室中，入射到样品上后激发出倍频波，经第二滤光片滤掉基频波后的倍频波被透镜聚焦，由第一光功率计探测，旋转样品台支架测量不同角度的倍频光强度，得到Mark(马克)条纹，计算出非线性系数，依据第一光功率计和第三光功率计的读数计算谐波转换效率。本实用新型能有效防止辐照样品二次辐射对实验人员的伤害，适用于辐照样品检测，具有结构紧凑、观察调节方便、使用安全等特点。

主权项

1.一种辐照样品非线性系数测量装置，其特征在于：由激光器(1)、第一滤光片(2)、分束片(3)、样品室(5)、第二滤光片(7)、透镜(8)、第一光功率计(9)、样品台(10)、样品台支架(11)、样品(12)和第二光功率计(13)组成；样品台(10)和样品台支架(11)均置于样品室(5)中，样品(12)置于样品台(10)上，样品台(10)通过样品支架(11)支撑；激光器(1)发出的基频光经第一滤光片(2)滤波后，被分束片(3)分成两束，小部分反射进入第二光功率计(13)，大部分透射进入样品室(5)中，入射到样品(12)上后激发出倍频波，从样品(12)中透射出来的光既有基频成分，也有倍频成分，所述从样品(12)中透射的光经第二滤光片(7)滤掉基频波后的倍频波被透镜(8)聚焦，由第一光功率计(9)探测，旋转样品台支架(11)测量不同角度的倍频光强度，得到Mark(马克)条纹，计算出非线性系数，依据第一光功率计(9)和第二光功率计(13)的读数计算谐波转换效率；所述非线性系数计算公式为：其中为待测样品的非线性光学系数的相对值，d为待测样品的非线性光学系数，为标准石英晶体的非线性系数；I_m^q(0)和I_m(0)分别为石英晶体和测试样品的Maker条纹包络极大值，n_ω，n_2ω为基频和倍频折射率；谐波转换效率计算公式为：η＝k(P₂/P₁)，其中k为分束片3的反射率，P1、P2分别为第一光功率计9和第二光功率计13的读数。