[实用新型]一种辐照样品非线性系数测量装置无效

专利信息
申请号: 200920110068.X 申请日: 2009-07-10
公开(公告)号: CN201503386U 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 石建平;文送林;董可秀 申请(专利权)人: 安徽师范大学
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/17
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 成金玉;卢纪
地址: 24100*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 辐照 样品 非线性 系数 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种辐照样品非线性系数测量装置,其特征在于:由激光器(1)、第一滤光片(2)、分束片(3)、样品室(5)、第二滤光片(7)、透镜(8)、第一光功率计(9)、样品台(10)、样品台支架(11)、样品(12)和第二光功率计(13)组成;样品台(10)和样品台支架(11)均置于样品室(5)中,样品(12)置于样品台(10)上,样品台(10)通过样品支架(11)支撑;激光器(1)发出的基频光经第一滤光片(2)滤波后,被分束片(3)分成两束,小部分反射进入第二光功率计(13),大部分透射进入样品室(5)中,入射到样品(12)上后激发出倍频波,从样品(12)中透射出来的光既有基频成分,也有倍频成分,所述从样品(12)中透射的光经第二滤光片(7)滤掉基频波后的倍频波被透镜(8)聚焦,由第一光功率计(9)探测,旋转样品台支架(11)测量不同角度的倍频光强度,得到Mark(马克)条纹,计算出非线性系数,依据第一光功率计(9)和第二光功率计(13)的读数计算谐波转换效率;所述非线性系数计算公式为:其中为待测样品的非线性光学系数的相对值,d为待测样品的非线性光学系数,为标准石英晶体的非线性系数;Imq(0)和Im(0)分别为石英晶体和测试样品的Maker条纹包络极大值,nω,n为基频和倍频折射率;谐波转换效率计算公式为:η=k(P2/P1),其中k为分束片3的反射率,P1、P2分别为第一光功率计9和第二光功率计13的读数。

2.根据权利要求1所述的辐照样品的非线性系数测量装置,其特征在于:所述的分束片(3)为反射率小于5%、透射率大于95%的分束片。

3.根据权利要求1所述的辐照样品的非线性系数测量装置,其特征在于:所述的样品室(5)为方形结构,材料为5mm~10mm厚不锈钢板,左右两壁各有一圆孔,圆孔的直径5~10cm。

4.根据权利要求1所述的辐照样品的非线性系数测量装置,其特征在于:所述的样品台支架(11)为四维调节架。

 

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