[实用新型]一种辐照样品非线性系数测量装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种辐照样品非线性系数测量装置，属于非线性光学的材料性质测量技术领域。

背景技术

辐照损伤问题一直以来是军事航天领域研究人员所关注的一个极其重要的问题。早在上世纪五十年代，人们就已经注意到在核反应、粒子加速器和空间自然辐照环境中产生的带电粒子对材料或者电子元件的损伤问题，已进行很多重要研究并应用到了航天器的辐照防护中。然而对于非线性光学材料辐照损伤的实验测试几乎没见报道，虽然目前有很多可以测量非线性材料光学系数的装置，但都不适用于辐照样品检测，因为辐照样品被辐照后可能有二次辐射发生，因此实验人员安全和其他光学元器件防护都需要考虑。另外，辐照样品的非线性光学特性极有可能会随辐照时间延迟长短的不同而不同，因此还需要该装置能够实时测量。

实用新型内容

本实用新型需要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供一种辐照样品非线性系数测量装置，该装置能够有效防止二次辐射的危害，同时样品观察调节方便，有利于实时测量。

本实用新型的技术解决方案是：一种辐照样品非线性系数测量装置由激光器、第一滤光片、分束片、样品室、第二滤光片、透镜、光功率计、样品台、样品台支架以及光功率计组成，样品台、样品台支架均置于样品室中，样品台和样品台支架均置于样品室中，样品置于样品台上，样品台通过样品支架支撑；激光器发出的基频光经滤光片滤波后，被分束片分成两束，小部分反射进入第一光功率计，大部分透射进入样品室中，入射到样品上激发出倍频波。从样品中透射出来的光既有基频成分，也有倍频成分，经滤光片滤掉基频波后倍频波被透镜聚焦到第一光功率计处探测，旋转样品台支架测量不同角度的倍频光强度，得到测试样品Mark(马克)条纹。更换样品为非辐照的标准石英晶体重复上述过程测得石英晶体Mark(马克)条纹，利用获得的测试样品和标准石英晶体的Mark(马克)条纹，采用Mark(马克)条纹法计算出非线性系数。计算公式如下：

dr2=[lcq(0)lc(0)]2Im(0)Imq(0)f(nω,n2ω)fq(nω,n2ω)---(1)]]>