[实用新型]等离子体处理装置有效

专利信息
申请号: 200920077812.0 申请日: 2009-07-03
公开(公告)号: CN201503847U 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 倪图强 申请(专利权)人: 中微半导体设备(上海)有限公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32;H01J37/02;H05H1/46;H01L21/02
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 王洁
地址: 201201 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种等离子体处理装置的新型结构可以解决等离子体浓度在基片或晶圆边缘区域小于中心区域的问题。该新型结构包括在基座外围的介电体外周侧设置一射频能量引导元件来引导从下电极送入的射频能量的传递路径,并将该射频能量引导至基片边缘,以增强基片边缘的等离子体密度,最终增强或实现等离子体密度或浓度在整个基片表面的均一。
搜索关键词: 等离子体 处理 装置
【主权项】:
一种等离子体处理装置,其特征在于,所述等离子体处理装置包括:由导电材料制成的反应腔;设置于反应腔内的一第一电极;设置于反应腔内与第一电极相对设置的一第二电极;一射频功率源与第二电极相连接,用以提供射频功率而在第一电极及第二电极之间形成射频电场和形成等离子体;一基座设置于反应腔内用于支撑被处理的基片或晶片;一介电体围绕所述基座,并包围所述基座中的第二电极外侧面的;一射频能量引导元件,其由导电材料制成并且在等离子体处理过程中电浮地,所述射频能量引导元件包括:一覆盖部,设置于介电体外侧并至少部分包围该介电体中的第二电极外侧面的一部分;以及一向内延伸部,其一端与所述覆盖部相交,其相对的另一端向靠近基座的一侧延伸。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中微半导体设备(上海)有限公司,未经中微半导体设备(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200920077812.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top