[发明专利]陶瓷电容失效的防护方法无效
| 申请号： | 200910312136.5 | 申请日： | 2009-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN101752106A | 公开（公告）日： | 2010-06-23 |
| 发明（设计）人： | 王勃;林坚;叶新艳;石红;郭欣 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司第六三一研究所 |
| 主分类号： | H01G13/00 | 分类号： | H01G13/00 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 康凯 |
| 地址： | 710068 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明是一种陶瓷电容失效的防护方法，涉及电子设备中陶瓷电容领域，其包括电容筛选、电装加工、三防处理、环境试验，所述的电容筛选过程包括：(1)外观初查；(2)温度循环：将所述合格电容先后置于-55℃和85℃的高低温箱内，分别保持30min，交替循环五次；(3)高温老化：将上述(2)步骤中温度循环过的电容置于85℃的高低温箱内保持48h，通过实时检测电容的漏电流值，判断出电容是否存在裂纹；(4)常温终测：常温下检测电容的漏电流值、耐压值、容值；(5)外观复查。它解决了现有技术中存在的陶瓷电容失效的问题，主要应用于电子设备中陶瓷电容的防护。 | ||
| 搜索关键词： | 陶瓷 电容 失效 防护 方法 | ||
【主权项】：
陶瓷电容失效的防护方法，其常规步骤包括电容筛选、电装加工、三防处理、环境试验，其特征在于，所述的电容筛选过程包括：(1.1)外观初查：观测并剔除裂纹电容，选取合格电容；(1.2)温度循环：将所述合格电容先后置于55℃和85℃的高低温箱内，分别保持30min，交替循环五次；(1.3)高温老化：将上述(1.2)步骤中温度循环过的电容置于85℃的高低温箱内保持48h，通过实时检测电容的漏电流值，判断出电容是否存在裂纹；(1.4)常温终测：常温下检测电容的漏电流值、耐压值、容值；(1.5)外观复查。
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