[发明专利]陶瓷电容失效的防护方法无效

专利信息
申请号: 200910312136.5 申请日: 2009-12-23
公开(公告)号: CN101752106A 公开(公告)日: 2010-06-23
发明(设计)人: 王勃;林坚;叶新艳;石红;郭欣 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司第六三一研究所
主分类号: H01G13/00 分类号: H01G13/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 康凯
地址: 710068 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 陶瓷 电容 失效 防护 方法
【权利要求书】:

1.陶瓷电容失效的防护方法,其常规步骤包括电容筛选、电装加工、三防处理、环境试验,其特征在于,所述的电容筛选过程包括:

(1.1)外观初查:观测并剔除裂纹电容,选取合格电容;

(1.2)温度循环:将所述合格电容先后置于-55℃和85℃的高低温箱内,分别保持30min,交替循环五次;

(1.3)高温老化:将上述(1.2)步骤中温度循环过的电容置于85℃的高低温箱内保持48h,通过实时检测电容的漏电流值,判断出电容是否存在裂纹;

(1.4)常温终测:常温下检测电容的漏电流值、耐压值、容值;

(1.5)外观复查;

所述的电装加工包括第一次搪锡、插装、焊接,所述第一次搪锡的时间为小于等于2秒;

在所述的第一次搪锡之后、插装之前,采用绝缘测试仪对电容进行100V的耐压绝缘测试;

所述的插装,在电容的陶瓷体与印制板之间留有间隙;

所述的焊接采用波峰焊机焊接,焊接温度变化速度小于等于2℃/Sec;

所述的三防处理包括对电容局部进行灌涂:用注胶针管将三防漆液从电容一侧注入,另一侧溢出,使电容底部与印制板的间隙充满漆液,之后进行喷涂。

2.根据权利要求1所述的陶瓷电容失效的防护方法,其特征在于,所述搪锡还包括第二次搪锡,与所述第一次搪锡时间间隔为4~8秒。

3.根据权利要求2所述的陶瓷电容失效的防护方法,其特征在于,所述电容的陶瓷体与印制板之间留有间隙大于等于1mm。

4.根据权利要求3所述的陶瓷电容失效的防护方法,其特征在于,所述的三防处理还包括前处理工艺:

(6.1)使用整理剂清理陶瓷电容表面,所述整理剂是由酒精、加入2%(体积百分比)非离子表面清洗剂的去离子水清洗剂组成;

(6.2)用上述去离子水清洗剂清洗;

(6.3)用上述酒精脱水;

(6.4)用压缩空气吹干; 

(6.5)烘箱干燥。

5.根据权利要求4所述的陶瓷电容失效的防护方法,其特征在于,所述的电容是采用专用包装盒存放、运输。 

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