[发明专利]用于制造半导体器件和接线键合器的方法有效
申请号: | 200910263609.7 | 申请日: | 2009-12-23 |
公开(公告)号: | CN101800182A | 公开(公告)日: | 2010-08-11 |
发明(设计)人: | 三角和幸;新川秀之;山内俊治;青木满 | 申请(专利权)人: | 株式会社瑞萨科技 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/603 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华;陈宇萱 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及用于制造半导体器件和接线键合器的方法。具体地,通过减小引线框或者布线衬底在接线键合之后的颤动,实现了接线键合质量的改进。在接线键合器的接线键合部分的加热块之上,提供冷却风机,用于冷却经过接线键合的矩阵框,从而使其温度可以逐步降低。在接线键合之后,冷空气从冷却风机吹送到矩阵框,并且执行对矩阵框的温度控制,从而使矩阵框的温度在接线键合之后可以逐步降低。或者,利用诸如框保持部件、引导部件、滚轴装置或者弹性装置的保持工具来固定经过接线键合的矩阵框,直到冷却完成。 | ||
搜索关键词: | 用于 制造 半导体器件 接线 键合器 方法 | ||
【主权项】:
一种制造半导体器件的方法,包括步骤:(a)准备引线框,其中并排形成有多个器件区,半导体芯片安装在每个所述器件区中,并且其中在各器件区中提供多个引线;(b)将所述半导体芯片安装在所述引线框的所述器件区中;(c)将所述引线框部署在接线键合器的加热块之上,并且在利用框保持部件按压所述引线的情况下,对安装在所述器件区中的所述半导体芯片与所述引线进行接线键合;以及(d)在步骤(c)之后,冷却所述引线框,使其温度可以逐步降低。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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