[发明专利]用于同时检测伤寒、副伤寒的生物芯片及其制备方法无效
| 申请号： | 200910238923.X | 申请日： | 2009-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN101738472A | 公开（公告）日： | 2010-06-16 |
| 发明（设计）人： | 林连成 | 申请（专利权）人： | 深圳市赛尔生物技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/569 | 分类号： | G01N33/569 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所 44248 | 代理人： | 胡吉科 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于同时检测伤寒、副伤寒的生物芯片，属于生物芯片技术领域，包括芯片片基，所述的片基设置有至少一个检测单元，所述的检测单元设置有检测样待检点阵，所述的检测点阵为双位点设计；所述的检测点阵包括质控检测点，阴性对照检测点，伤寒O、H、VI型检测位点和副伤寒甲、乙、丙型检测位点；所述的质控检测点，阴性对照检测点，伤寒O、H、VI型检测位点和副伤寒甲、乙、丙型检测位点分别包被有相应的抗原。通过本发明所述的生物芯片进行检测，可以实现高效、节省时间、高通量同时诊断检测伤寒沙门氏菌感染，即一次检测可得知伤寒O、H、VI和副伤寒甲、乙、丙型的组合的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 同时 检测 伤寒 副伤寒 生物芯片 及其 制备 方法 | ||
【主权项】：
一种用于同时检测伤寒、副伤寒的生物芯片，其特征是：包括芯片片基，所述的片基设置有至少一个检测单元，所述的检测单元设置有检测样待检点阵，所述的检测点阵为双位点设计；所述的检测点阵包括质控检测点，阴性对照检测点，伤寒O、H、VI型检测位点和副伤寒甲、乙、丙型检测位点；所述的质控检测点，阴性对照检测点，伤寒O、H、VI型检测位点和副伤寒甲、乙、丙型检测位点分别包被有相应的抗原。
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