[发明专利]用于同时检测伤寒、副伤寒的生物芯片及其制备方法无效
| 申请号: | 200910238923.X | 申请日: | 2009-12-29 |
| 公开(公告)号: | CN101738472A | 公开(公告)日: | 2010-06-16 |
| 发明(设计)人: | 林连成 | 申请(专利权)人: | 深圳市赛尔生物技术有限公司 |
| 主分类号: | G01N33/569 | 分类号: | G01N33/569 |
| 代理公司: | 深圳市科吉华烽知识产权事务所 44248 | 代理人: | 胡吉科 |
| 地址: | 518000 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 同时 检测 伤寒 副伤寒 生物芯片 及其 制备 方法 | ||
技术领域
本发明属于生物芯片技术领域,尤其是涉及一种用于同时检测伤寒、副伤寒的生物芯片及其制备方法,以及包括所述芯片的检测试剂盒。
背景技术
肠道感染是世界排名第3位的疾病病因,其中伤寒沙门菌和甲型副伤寒沙门菌引起的肠热症占主要部分。这种疾病构成在卫生条件差和饮水未经处理的国家更为明显,是威胁人们健康的主要问题。在亚洲,甲型副伤寒沙门菌已经成为肠热症的主要病因。中国自1998年分离到甲型副伤寒沙门菌,它逐渐成为流行的优势菌型,经常引起地方性流行和暴发。
伤寒副伤寒在全球分布广泛,2000年世界卫生组织(WHO)估计全球伤寒总发病数为2 165万,发病率高达355/10万,死亡数21.6万,其中副伤寒发病数541万。虽然全球的伤寒副伤寒总发病呈下降趋势,但在卫生状况不良的地区,发病率仍居高不下,常出现水和食物污染引起的暴发和流行。伤寒副伤寒沙门菌耐药日益严重,流行菌型不断变迁,伤寒副伤寒高发病率所造成的疾病负担仍不容忽视。
目前伤寒副伤寒的诊断方法有:细菌的分离培养、血清学方法如肥达氏反应、乳胶凝集试验、ELISA、核酸检测(PCR)。分离培养法是在患者的体液标本中培养出伤寒沙门菌,是最基本也是诊断伤寒病例的金标准。培养所用的标本可有骨髓、血液、粪便和尿液,Gilman等的实验中证明即使在使用抗生素的前提下,骨髓的培养阳性率仍然最高,可达到90%,而血、尿等标本的培养阳性率受到显著影响。但抽取骨髓对患者来说很痛苦,并且增加了伤寒病诊治过程中的风险。由于培养的方法受到抗生素应用的影响,阳性率大大降低,而且培养的方法至少经过3~5天才能得到结果,不能及时为正确合理的治疗方案提供依据。
血清学方法所针对的目的抗原(或其相应的抗体)有以下3种:菌体抗原O、鞭毛抗原H和Vi抗原。其中,肥达反应存在诸多问题,在诊断上含糊不清,不敏感不特异,已表现出显著的局限性,需要改用其他敏感特异的检测方法。相对于肥达反应18~24h的时耗,ELISA显示了快速灵敏和特异的特点人们普遍认为EL ISA方法是一种既灵敏又特异的诊断方法。尤其是EL ISA方法同时检测IgM和IgG比单独检测IgM结果更可靠。
PCR检测标本中的伤寒沙门菌核酸,是目前公认最为敏感和特异的诊断方法。但PCR方法并不是完美的,不仅容易污染,另外,伤寒和甲型副伤寒沙门菌是胞内寄生菌,抗生素的滥用加剧了血液中细菌数量的减少,制备DNA模板过程中样品的损失增加PCR扩增的难度。但PCR方法的灵敏度比血培养和肥达氏反应显著高,并且其高灵敏度和特异性对临床有争议的伤寒病例做出快速、确切的诊断有巨大作用。
上述方法都各有优缺点,但都需要一次实验只能检测一种细菌,或者一个抗体,不能同时检测出伤寒O、H、VI和副伤寒甲、乙、丙型。在检测效率方面费时费力,尤其传统的肥达氏反应更需要12-24小时,分离培养需要3-5天时间。PCR方法固然敏感和特异,但也要几个小时,也需要昂贵仪器,一次实验只能作出一种细菌的诊断,在基层医疗机构无法实施,因为它需要有严格控制的操作空间和结净环境。
发明内容
本发明的目的之一在于提供一种用于同时检测伤寒、副伤寒的生物芯片,解决现有技术存在的缺陷。
为实现上述目的,本发明采用如下技术方案:
一种用于同时检测伤寒、副伤寒的生物芯片包括芯片片基,所述的片基设置有至少一个检测单元,所述的检测单元设置有检测样待检点阵,所述的检测点阵为双位点设计;所述的检测点阵包括质控检测点,阴性对照检测点,伤寒O、H、VI型检测位点和副伤寒甲、乙、丙型检测位点;所述的质控检测点,阴性对照检测点,伤寒O、H、VI型检测位点和副伤寒甲、乙、丙型检测位点分别包被有相应的抗原。
优选的方案是:所述的检测点阵还包括空白对照检测点。
更为优选的方案是:所述的检测单元的检测样待检点阵为4×5双位点设计;所述的质控检测点,阴性对照检测点,伤寒O、H、VI型检测位点和副伤寒甲、乙、丙型检测位点以及空白对照检测点设置有两个重复;所述的阴性对照检测点以及空白对照检测点为伤寒O、H、VI型检测位点和副伤寒甲、乙、丙型检测位点的共同对照检测点。
更为优选的方案是:所述的质控检测点包被的抗原为为用于检测IgM和/或IgG型抗体的抗原。
更为优选的方案是:所述的芯片片基为活化处理后的玻璃片基,或者为膜片基,或者为高分子硅片基,或者为塑料片基。
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