[发明专利]用以测试具有负载阻抗的集成电路的方法、设备及系统

摘要

本发明是有关于一种用以测试具有负载阻抗的集成电路的方法、设备及系统。该用以测试具有负载阻抗的集成电路的方法，包括：产生一具有第一频率的第一测试信号和一具有一第二频率的第二测试信号，其中第二频率大于第一频率；将第一测试信号传送至一基板，此基板上的电路可处理第一测试信号；将第二测试信号传送至另一基板，此基板包含一阻抗匹配电路，此阻抗匹配电路可将集成电路上的负载阻抗转变成适合第二频率的阻抗；及将第一和第二测试信号传送至集成电路。本发明还提供了一种用以测试具有负载阻抗的集成电路的设备和一种用以测试具有负载阻抗的集成电路的系统。

主权项

一种用以测试具有负载阻抗的集成电路的方法，其特征在于其包括以下步骤：产生一具有一第一频率的第一测试信号及一具有一第二频率的第二测试信号，其中该第二频率大于该第一频率；提供该第一测试信号给一第一基板，其中该第一基板具有一电路，该电路用于处理该第一测试信号；提供该第二测试信号给一第二基板，其中该第二基板具有一阻抗匹配电路，该阻抗匹配电路将该负载阻抗转变为一适合该第二频率的一欲求阻抗；以及将第一和第二测试信号经由该第二基板传送至该集成电路。