[发明专利]用于测试多端口存储器器件的运行时可编程BIST

摘要

本发明公开了一种用于测试多端口存储器器件的运行时可编程BIST。一种实施例提供了一种运行时可编程系统，包括测试多端口存储器器件以发现多端口存储器故障，以及在访问存储器器件单个端口时可以激活的典型单端口存储器故障的多种方法和装置。更具体地说，本系统包含多种机制，它们可以配置成在同时进行两个存储器访问操作时，激活和检测影响存储器器件的任何现实故障。在操作中，该系统能够在测试存储器器件时接收指令序列，该指令序列实现测试该存储器器件的新测试程序。此外，该系统可以实现测试任何多端口存储器器件的内置自测试(BIST)解决方案，并且可以部分地以指令序列的信息作为基础，生成针对特定存储器设计的测试。

主权项

一种测试多端口存储器器件，以检测多端口存储器故障的方法，其中当通过第一端口和第二端口同时访问该存储器器件时，多端口存储器故障会影响该存储器器件，该方法包括：接收实现存储器测试，以发现多端口存储器器件的多端口存储器故障的指令序列；部分地以该指令序列为基础，生成该存储器器件的第一端口的第一测试操作集合，以及该存储器器件第二端口的第二测试操作集合，其中第一测试操作集合配置成通过第一端口，来访问多端口存储器器件的第一存储器单元，其中第二测试操作集合配置成通过第二端口，来访问多端口存储器器件的第一存储器单元或第二存储器单元，其中第二存储器单元毗邻第一存储器单元；对多端口存储器器件第一端口应用第一测试操作集合；对多端口存储器器件第二端口应用第二测试操作集合；以及通过确定从第一端口或第二端口读取的被访问二进制值是否匹配预期二进制值，确定多端口存储器器件是否发生多端口存储器故障。