[发明专利]用于实现层级式测试设计解决方案的方法和装置

摘要

本发明涉及用于实现层级式测试设计解决方案的方法和装置。具体地，公开了用于实现电路上的层级式测试设计(DFT)逻辑的方法和设备。该层级式DFT逻辑实现DFT电路，其可以专用于模块，并且可以将用于多个模块的DFT配置为共享顺序输入信号和/或共享顺序输出信号。在操作期间，第一模块的DFT电路可以将来自顺序输入信号的比特序列传播至第二模块的DFT电路，使得该比特序列可以包括用于控制该DFT电路的一组控制信号值，并且可以包括用于测试该模块的压缩测试向量。此外，用于第二模块的DFT电路可以生成顺序响应信号，其组合了来自第二模块的压缩响应向量和来自第一模块的DFT电路的顺序响应信号。

主权项

一种用于测试电路的方法，所述方法包括：配置第一测试设计(DFT)核，用于对所述电路的第一模块执行测试，这是通过下述操作实现的：配置所述DFT核的测试输入集合，用于接收压缩的测试向量；配置所述第一DFT核的组合解压缩逻辑，用于通过对所述压缩的测试向量进行解压缩来生成非压缩的测试向量，其中所述非压缩的测试向量被扫描到扫描链集合中；配置组合压缩逻辑，用于通过压缩响应向量来生成压缩的响应向量，其中所述响应向量从所述扫描链集合中扫描出来；以及配置所述第一DFT核的响应输出集合，用于接收所述压缩的响应向量；配置第一触发器串列，用于接收与所述压缩的测试向量相关联的输入比特流，其中所述第一触发器串列中的第一触发器的输出耦合至所述测试输入集合中的第一测试输入；以及配置第二触发器串列，用于生成与所述压缩的响应向量相关联的第一输出比特流，其中所述响应输出集合中的第一响应输出耦合至所述第二触发器串列中的第二触发器的输入。