[发明专利]用于实现层级式测试设计解决方案的方法和装置有效

专利信息
申请号: 200910208098.9 申请日: 2009-10-27
公开(公告)号: CN101793942A 公开(公告)日: 2010-08-04
发明(设计)人: R·卡普尔;A·钱德拉;Y·卡恩扎瓦;J·赛基阿 申请(专利权)人: 新思科技有限公司
主分类号: G01R31/3185 分类号: G01R31/3185
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 实现 层级 测试 设计 解决方案 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种用于测试电路的方法,所述方法包括:

配置第一测试设计核,用于对所述电路的第一模块执行测试,这 是通过下述操作实现的:

配置所述第一测试设计核的测试输入集合,用于接收压缩的测试 向量;

配置所述第一测试设计核的组合解压缩逻辑,用于通过对所述压 缩的测试向量进行解压缩来生成非压缩的测试向量,其中所述非压缩 的测试向量被扫描到扫描链集合中;

配置组合压缩逻辑,用于通过压缩从所述扫描链集合中扫描出来 的响应向量来生成压缩的响应向量;以及

配置所述第一测试设计核的响应输出集合,用于接收所述压缩的 响应向量;

配置第一触发器串列,用于接收与所述压缩的测试向量相关联的 输入比特流,其中所述第一触发器串列中的第一触发器的输出耦合至 所述测试输入集合中的第一测试输入;

配置第二触发器串列,用于生成与所述压缩的响应向量相关联的 第一输出比特流,其中所述响应输出集合中的第一响应输出耦合至所 述第二触发器串列中的第二触发器的输入;以及

配置第一多路器集合,用于将所述第一触发器串列的输出与所述 第一测试设计核的所述测试输入集合对接,其中所述第一多路器集合 用于以前向或以反向将所述压缩的测试向量输入至所述第一测试设 计核的测试输入。

2.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:

将所述第一多路器集合中的多路器的第一数据输入耦合至所述 第一触发器串列中的所述第一触发器的所述输出;

将所述第一多路器集合中的所述多路器的第二数据输入耦合至 所述第一触发器串列中的第三触发器的输出;

将所述第一多路器集合中的所述多路器的第一数据输出耦合至 所述第一测试设计核的所述第一测试输入;以及

配置所述第一多路器集合中的所述多路器的选择输入,以用于选 择是将所述第一数据输入的值还是将所述第二数据输入的值传播至 所述第一数据输出。

3.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:

配置第二多路器集合,用于将所述第一测试设计核的所述响应输 出集合与所述第二触发器串列的输入对接,其中所述第二多路器集合 用于以前向或以反向将所述压缩的响应向量输入至所述第二触发器 串列的输入。

4.根据权利要求3所述的方法,进一步包括:

将所述第二多路器集合中的多路器的第三数据输入耦合至所述 响应输出集合中的第一响应输出;

将所述第二多路器集合中的所述多路器的第四数据输入耦合至 所述响应输出集合中的第二响应输出;

将所述第二多路器集合中的所述多路器的第二数据输出耦合至 所述第二触发器串列中的所述第二触发器的输入;以及

配置所述第二多路器集合中的所述多路器的选择信号,以用于选 择是将所述第三数据输入的值还是将所述第四数据输入的值传播至 所述第二数据输出。

5.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:

将所述第一触发器串列中的触发器的输出耦合至第三触发器串 列中的触发器的输入,并且配置所述第三触发器串列以用于接收第二 测试设计核的输入比特流;以及

将所述第二触发器串列中的触发器的输出耦合至第四触发器串 列中的触发器的输入,并且配置所述第四触发器串列以用于部分基于 所述第二测试设计核的输出来生成第二输出比特流。

6.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:

配置第五触发器串列,用于接收与所述压缩的测试向量相关联的 输入比特流,其中所述第五触发器串列中的触发器的输出耦合至所述 第一触发器串列中的触发器的输入;以及

配置触发器阵列,用于存储来自所述第五触发器串列的输出向 量,其中所述触发器阵列用于向所述组合解压缩逻辑提供恒定输入 值。

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