[发明专利]处理组合的磁共振-发射断层造影图像的方法和装置无效

专利信息
申请号: 200910206435.0 申请日: 2009-11-12
公开(公告)号: CN101732048A 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: 阿克塞尔·马丁内斯-莫勒;斯蒂芬·内科拉 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055;A61B5/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 时永红
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及确定组合MR-发射断层造影图像中光子有效数率的方法,包括利用MR-发射断层造影设备中的MR装置采集MR信号以产生具有多个组织类型的检查对象的MR图像,这些组织类型各具有一个特殊MR参数;通过对应单元根据MR参数将多个发射断层造影衰减系数与多个组织类型对应,从而每个发射断层造影衰减系数至少相应于检查对象中的一个组织类型;利用在MR-发射断层造影设备中的发射断层造影装置采集在检查对象中的光子,以产生发射断层造影图像;以及通过校正装置利用发射断层造影衰减系数对发射断层造影图像加权,用以确定多个组织类型中的有效数率,以及产生经校正的发射断层造影图像。本发明还涉及一种实施该方法的装置。
搜索关键词: 处理 组合 磁共振 发射 断层 造影 图像 方法 装置
【主权项】:
一种用于确定组合的MR-发射断层造影图像中光子的有效数率的方法,包括以下步骤:a)利用MR-发射断层造影设备中的MR装置(5)采集MR信号以产生具有多个组织类型(12-15;19-21)的检查对象(1)的MR图像(16;26),这些组织类型各具有一个特殊的MR参数;b)通过对应单元根据所述MR参数将多个发射断层造影衰减系数(24)与所述多个组织类型(12-15;19-21)相对应,从而使每个发射断层造影衰减系数分别至少相应于检查对象中的一个组织类型;c)利用MR-发射断层造影设备中的发射断层造影装置采集检查对象中的光子,以产生发射断层造影图像(31;34),以及d)通过校正装置利用所述发射断层造影衰减系数对所述发射断层造影图像进行加权,用以确定在多个组织类型中的有效数率,以及用以产生经校正的发射断层造影图像(35)。
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